[發明專利]寫入條件優化方法和設備以及光記錄介質

無效

• 申請號: 200680040936.0
• 申請日: 2006-12-20
• 公開（公告）號: CN101300624A
• 公開（公告）日: 2008-11-05
• 發明（設計）人: 裴在喆;金朱鎬;李坰根;趙輝;福澤成敏;菊川隆;小林龍弘
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社;TDK株式會社
• 主分類號: G11B7/0045
• 分類號: G11B7/0045
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司
• 代理人: 郭鴻禧;劉奕晴

技術領域

本發明的各方面涉及一種用于優化光記錄介質的寫入條件的方法和設備及其光記錄介質。?

背景技術

傳統的寫入條件優化方法可包括：通過在按照預定模式執行寫入之后的再現期間，提取寫入模式邊沿與PLL(鎖相環)時鐘邊沿之間的相位差作為誤差脈沖來確定具有最小相位差的寫入脈沖，獲得一種來自根據標記(mark)和空白(space)的組合存在相位差的信息表的誤差脈沖被最小化的條件，對于盤重復寫入并再現寫入模式的操作。?

另一傳統的寫入條件優化方法包括通過最小化抖動來優化寫入的方法。在該方法中，按照非對稱校正方法來首先優化寫入功率。然后，通過移動標記邊沿來確定寫入脈沖。也就是說，確定寫入脈沖的第一脈沖和最后脈沖以最小化抖動值。?

這些方法基本上使用過零(zero-crossing)方法來測量抖動或者使用寫入模式邊沿與PLL時鐘邊沿之間的相位差來優化寫入。然而，隨著盤的容量增加，上述和/或其它方法的使用變得不可行。?

圖1A和圖1B是分別示出使用波長為405nm，NA為0.85(其中，分辨率為119nm(＝405nm/(4×0.85)))的拾取器測量的25GB和50GB的RF信號的曲線圖。如圖1所示，對于25GB的RF信號，RF信號比較清楚，從而可按照過零方法來估計信號，并且可使用該方法進行寫入優化。也就是說，如圖A所示，由于RF信號清楚地跨過零點，因此，可按照過零方法來進行寫入優化。?

如圖1B所示，對于50GB的RF信號，由于小于分辨率(2T＝75nm并且3T＝112.5nm)的信號不能被檢測到，所以不能按照上述傳統的寫入條件優化方法來實現寫入優化。也就是說，由于RF信號沒有在由圈B指示的部分中跨過零點，所以難以檢測寫入RF信號的過零情況。?

發明內容

技術問題?

所述現象在包括小于分辨率的標記的Super-RENS盤的隨機信號中同樣存在。在Super-RENS盤中，激光束本身的大小沒有減小，但是光學特性在盤的部分區域改變。因此，由于標記的長度減小而激光束的原始大小沒有改變，所以標記位于激光束的一個光斑的范圍之內，因此干擾信號。當特定標記的信號電平由于上述符號間干擾而受到位于所述特定標記之前和之后的標記的信號電平的影響時，即使標記或空白的長度相同，標記或空白的信號電平也變得不一致。因此，不能使用過零方法。所以，用于傳統光盤的寫入優化方法不能用于包括小于分辨率的標記的Super-RENS盤。因此，需要新的方法來進行寫入優化。?

技術方案?

為了解決上述和/或其它問題，本發明的各方面提供一種寫入條件優化方法和設備及其信息存儲介質，所述方法和設備通過在高密度信息記錄介質(具體為超分辨率盤)中最優地確定寫入條件來改善信號的質量。?

有益效果?

根據本發明的各方面，對于無法使用過零檢測方法的高密度信息存儲介質的光記錄介質，可有效地優化寫入條件。此外，可通過改善信號的質量來再現高容量記錄。?

附圖說明

通過下面結合附圖進行的對實施例的描述，本發明的這些和/或其它方面和優點將會變得清楚和更加容易理解，其中：?

圖1A和圖1B是分別示出使用波長為405nm，NA為0.85(其中，分辨率為119nm(＝405nm/(4×0.85)))的拾取器測量的25GB和50GB的RF信號的曲線圖；?

圖2是示出根據本發明實施例的記錄/再現設備的配置的示圖；?

圖3是用于解釋根據本發明實施例的寫入條件優化方法的流程圖；?

圖4是用于圖3的寫入條件優化方法的測試寫入模式的時序圖；?

圖5A和圖5B示出根據圖3的寫入條件優化方法的誤差改進方向；?

圖6A和圖6B示出根據圖3的寫入條件優化方法的另一誤差改進方向；?

圖7A和圖7B示出根據圖3的寫入條件優化方法的另一誤差改進方向；?

圖8A和圖8B是示出根據重復誤差的占空時間量的改變的曲線圖；以及?

圖9是示出寫入占空時間調整量的信息記錄介質的示圖。?

具體實施方式

最佳方式?

根據本發明的一方面，一種優化光記錄介質的寫入條件的方法，包括：在光記錄介質上按照寫入條件寫入測試模式數據，將通過再現寫入的測試模式數據檢測的誤差模式二進制信號與測試模式數據的校正模式二進制信號進行比較，以及基于比較的結果來確定光記錄介質的最佳寫入條件。?