[發明專利]用于進行MRI的非圓柱形RF線圈

無效

• 申請號: 200680039923.1
• 申請日: 2006-10-03
• 公開（公告）號: CN101297211A
• 公開（公告）日: 2008-10-29
• 發明（設計）人: J·魏岑埃克;C·施羅德
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G01R33/3415
• 分類號: G01R33/3415
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 宋獻濤;王英

1、一種射頻線圈，包括：

非圓柱形共形表面(62、76)，所述非圓柱形共形表面與磁共振對象基本一致；

多個導線環(60、71、72、73、74)，布置在所述剛性的非圓柱形共形表面之中或之上，所述多個導線環用于對B₁頻率的激勵做出反應而在所述磁共振對象中產生基本均勻的B₁場。

2、權利要求1所述的射頻線圈，其中，當所述多個導線環(60、71、72、73、74)在受到B₁頻率的激勵時，就定義出橫穿所述非圓柱形共形表面的離散電流密度，所述離散電流密度與所述磁共振對象中基本均勻的B₁場對應。

3、權利要求2中所述的射頻線圈，其中，當所述多個導線環(60、71、72、73、74)在準靜態域中受到激勵時就定義出所述離散電流密度，沿著所述導線環的電容維持著以所述B₁頻率定義的電流密度。

4、權利要求2中所述的射頻線圈，其中，至少一些導線環(60)通過彼此之間的互感進行電磁耦合。

5、權利要求1所述的射頻線圈，還包括：

一個或多個開關(80、82)，與所述導線環(71、72、73、74)相連接，所述一個或多個開關有選擇性地切換，從而：(i)將所述多個導線環以串行互連結構的形式互連起來，或者，(ii)對所述導線環解耦，以便定義出解耦導線環的線圈陣列，第一種和第二種結構(i)和(ii)是可選擇的，它們都共振于B₁頻率。

6、權利要求1所述的射頻線圈，其中，所述射頻線圈還包括：

一個或多個開關(80、82)，與所述導線環(71、72、73、74)相連接，所述一個或多個開關有選擇性地切換，從而將所述多個導線環在(i)筒式發射振蕩器和(ii)接收線圈陣列之間進行配置。

7、權利要求6所述的射頻線圈，其中，所述一個或多個開關(80、82)在筒式發射振蕩器結構(i)中將所述多個導線環(71、72、73、74)進行電連接，在所述接收線圈陣列結構(ii)中將所述多個導線環斷開連接。

8、權利要求1中所述的射頻線圈，其中，所述非圓柱形共形表面(62、76)是剛性的且非平面的。

9、權利要求1中所述的射頻線圈，還包括：

多個負載補償導線環(90)，布置在補償式非圓柱形共形表面(62)之中或之上，所述補償式非圓柱形共形表面與磁共振對象基本一致，所述多個負載補償導線環用于產生非均勻B₁場，其對所述磁共振對象造成的負載B₁非均勻性進行補償。

10、權利要求9所述的射頻線圈，其中，所述非圓柱形共形表面和所述補償式非圓柱形共形表面是同一表面(62)。

11、一種磁共振掃描儀，包括：

主磁體(20)，在相關區域生成主B₀磁場；

磁場梯度線圈(28)，有選擇性地在主B₀磁場上疊加磁場梯度；

權利要求1所述的射頻線圈(30、70)，一致地包圍磁共振對象，并且有選擇性地在所述磁共振對象中產生基本均勻的B₁域。

12、權利要求11所述的磁共振掃描儀，還包括：

負載補償射頻線圈(32)，包括多個布置在補償式非圓柱形共形表面(62)之中或之上的負載補償導線環(90)，所述補償式非圓柱形共形表面與磁共振對象基本一致，所述多個負載補償導線環用于在所述磁共振對象中產生非均勻B₁場，其對所述磁共振對象造成的所述磁共振對象中B₁場非均勻性進行補償。

13、權利要求11所述的磁共振掃描儀，還包括：

開關(80、82)，用于將所述多個導線環(60、71、72、73、74)在發射筒式振蕩器和接收線圈陣列之間進行切換。