[發明專利]用于光學分析物質的系統

無效

• 申請號: 200680038022.0
• 申請日: 2006-07-24
• 公開（公告）號: CN101287980A
• 公開（公告）日: 2008-10-15
• 發明（設計）人: P·哈丁;C·E·奧蒂斯;C·貝蒂;C·杜登赫菲
• 申請（專利權）人: 惠普開發有限公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G02B6/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 盧江;魏軍

1.一種用于光學分析物質的系統，包括：

光源(225)，包括多個可選擇的單波長光源(225)；

物質提送組件，其光耦合到所述光源(225)；以及

與所述物質提送組件關聯的光檢測系統(230)。

2.權利要求1的系統，其中所述光源(225)包括盤狀組件(310)，其包括耦合到所述盤狀組件(310)的外邊緣的所述多個可選擇的單波長光源(225)。

3.權利要求1的系統，其中所述光檢測系統(230)被定位成檢測穿過所述物質提送組件的光(450)。

4.權利要求1的系統，還包括布置在所述光源(225)和所述物質提送組件之間的導光管(410)；

其中所述導光管(410)被配置為將由所述單波長光源(225)產生的光(450)引導到所述物質提送組件上。

5.權利要求1的系統，其中所述光源(225)包括多邊形組件(360)，其包括布置在所述多邊形組件(360)上的單波長光源(225)的陣列。

6.一種用于光學分析物質的光源(225)，包括：

結構支撐組件；以及

耦合到所述結構支撐組件的多個可選擇的單波長光源(225)。

7.權利要求6的系統，其中所述結構支撐組件被配置為選擇性地旋轉。

8.一種制造用于光學分析物質的光源(225)的方法，包括：

形成結構支撐組件；

耦合多個耦合到所述結構支撐組件的可選擇的單波長光源(225)；以及

將所述多個可選擇的單波長光源(225)電耦合到控制器。

9.一種使用包括多個可選擇的單波長光源(225)的光源傳送盤(250、300、350)的方法，包括：

從所述多個可選擇的單波長光源(225)中選擇希望的單波長光源(225)；

用所述希望的單波長光源(225)照射分析物(440)；以及

檢測與所述被照射的分析物相關的波長。

10.權利要求9的方法，其中所述從所述多個可選擇的單波長光源(225)中選擇希望的單波長光源(225)至少部分基于所述分析物(440)的吸收或發射特性。