[發明專利]多信道發射磁共振無效
| 申請號: | 200680037023.3 | 申請日: | 2006-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN101283286A | 公開(公告)日: | 2008-10-08 |
| 發明(設計)人: | Z·翟;M·A·莫里希;G·D·德梅斯特 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R33/32 | 分類號: | G01R33/32;G01R33/3415 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 宋獻濤 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 信道 發射 磁共振 | ||
1、一種用于激發磁共振的發射裝置,所述發射裝置包括:
多信道射頻發射機(30,46),包括多個發射元件(32),所述多個發射元件(32)定義至少兩個獨立工作的發射信道;
發射配置選擇器(54),用于確定所選擇的發射配置(60),所選擇的發射配置(60)指定為了在與所述射頻發射機相耦合的對象(38)的對應選擇區域(90)中產生B1場而應用到每一個發射信道的幅度和相位,所述發射配置選擇器基于所述對象的B1映射(58)和使用至少兩個不同B1場質量測度的B1場質量評估值,來確定所選擇的發射配置。
2、如權利要求1所述的射頻線圈,其中,所述至少兩個不同的質量測度至少包括:
(i)范圍測度,表示在所述選擇區域(90)中最大B1場相對于最小B1場的比率;
(ii)在所述選擇區域中所述B1場的統計偏差測度。
3、如權利要求2所述的射頻線圈,其中,所述發射配置選擇器(54)在保持所述范圍小于門限值的同時將所述統計偏差最小化。
4、如權利要求1所述的射頻線圈,其中,所述至少兩個不同的質量測度包括以下各項中的至少之一:
(i)局部SAR測度;
(ii)在至少所述選擇區域(90)上求平均得出的平均SAR測度。
5、如權利要求1所述的射頻線圈,其中,所述射頻發射機(30,46)包括TEM線圈(30),所述發射元件(32)是所述TEM線圈的盤條,每一個發射信道都包括至少一個盤條。
6、如權利要求5所述的射頻線圈,其中,每一個發射信道正好包括一個盤條(32)。
7、如權利要求1所述的射頻線圈,其中,所述射頻發射機(30,46)包括由以下各項之一定義的多個線圈陣列元件:
(i)TEM線圈(30)的盤條(32);
(ii)簡并鳥籠型線圈的去耦網眼;或
(iii)表面發射線圈陣列的表面發射線圈,
其中,每一個發射信道都包括至少一個線圈陣列元件。
8、如權利要求7所述的射頻線圈,其中,每一個發射信道正好包括一個線圈陣列元件(32)。
9、如權利要求1所述的發射裝置,其中,所述發射配置選擇器(54)包括:
B1場質量評估器(102),其基于所述至少兩個不同的質量測度來評估所述B1映射(58)合乎期望的程度;
搜索器(110),對所要考慮的不同發射配置應用所述B1場映射和評估器,以確定所選擇的發射配置(60)。
10、如權利要求9所述的發射裝置,其中,所述搜索器(110)執行包括下列步驟的方法:
對當前發射信道的幅度和相位中的至少之一執行單信道搜索(112,114),而不改變其它發射信道的幅度或相位;
基于所述單信道搜索,更新所述當前發射信道;
對所述至少兩個獨立工作的發射信道中的每一個,重復所述單信道搜索和更新。
11、如權利要求9所述的發射裝置,其中,所述搜索器(110)通過改變先前評估的發射配置的至少一個幅度或相位,根據先前評估的所要考慮的發射配置,構建每一個所要考慮的發射配置。
12、如權利要求9所述的發射裝置,其中,所述搜索器(110)是用先前選擇的發射配置(92)啟動的,所述先前選擇的發射配置(92)是先前為與所述選擇區域(90)鄰近的區域而選擇出來的。
13、如權利要求9所述的發射裝置,其中,所述搜索器(110)針對染色體的進化種群執行遺傳算法,其中每一個染色體都代表一個所要考慮的發射配置。
14、如權利要求1所述的發射裝置,其中,通過處理從所述對象(38)獲取的B1場映射磁共振測量值,確定所述B1映射(58)。
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