[發明專利]管腳電路驅動器有效
| 申請號: | 200680036143.1 | 申請日: | 2006-09-26 |
| 公開(公告)號: | CN101278204A | 公開(公告)日: | 2008-10-01 |
| 發明(設計)人: | 羅納德·A·薩特斯奇夫 | 申請(專利權)人: | 泰瑞達公司 |
| 主分類號: | G01R31/319 | 分類號: | G01R31/319 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 谷惠敏;鐘強 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 管腳 電路 驅動器 | ||
技術領域
本專利申請主要涉及一種用于驅動器件的管腳的電路系統,例如,自動測試設備(ATE)內使用的測試器。
背景技術
自動測試設備(ATE)指通常由計算機驅動的用于測試諸如半導體、電子電路和印刷電路板組件的器件的自動系統。ATE測試的器件被稱為被測器件(DUT)。
ATE通常包括計算機系統和測試裝置或者具有相應功能塊的單個裝置。管腳電路通常是測試裝置的一部分。管腳電路包括驅動器、比較器和/或者用于測試DUT的有源負載功能塊。該驅動器將測試信號送到測試裝置的管腳。
ATE可以將不同類型是信號送到DUT。這些信號包括:測試信號,用于測試DUT;以及編程信號,例如,用于編程DUT上的EPROM(可編程只讀存儲器)。特別是,測試信號和編程信號要求具有不同阻抗的通道。更具體地說,編程信號通常要求具有較高的電壓。這樣,最好,通過較低阻抗通道,驅動該編程信號。這樣做是為了防止響應于負載電流的變化而導致電壓顯著降低并確保較穩定電壓。通過阻抗通道驅動測試信號,配置該阻抗通道以匹配該DUT的阻抗,從而降低該DUT的信號反射。用于驅動測試信號的阻抗通道通常具有較高的阻抗。
發明內容
本專利申請描述了包括計算機程序產品的方法和設備,其用于驅動諸如自動測試設備(ATE)內使用的測試器的器件的管腳。
一般地,根據一個方面,本發明涉及用于驅動裝置的管腳的電路系統。該電路系統包括:第一電路通道,以第一阻抗終結;第二電路通道,以第二阻抗終結,其中該第二阻抗小于該第一阻抗;以及選擇電路,用于控制該第二電路通道的運行。在該第二電路通道被配置為不運行時,該第一電路通道被配置為輸出多個第一電壓信號之一。當配置該第二電路通道運行時,該第二電路通道被配置為輸出第二電壓信號,其中該第二電壓信號大于該多個第一電壓信號。該方面還可以包括一個或者多個如下特征。
該第一電路通道可以包括:放大器,被配置為響應于輸入電壓信號以產生輸出電壓信號,其中該輸出電壓信號包括該多個電壓信號之一;以及阻抗電路,用于產生該第一阻抗。該第二電路通道可以包括:電流供給器,被配置為輸出電流;放大器,被配置為響應于輸入電壓信號以產生輸出信號;以及第一開關電路,位于該放大器與該電流供給器之間,其中配置該第一開關電路以響應于控制信號而閉合。在該第一開關電路閉合時,該輸出電流通過該第一開關電路和該第二阻抗,以產生該第二電壓信號的至少一部分。該第一開關電路可以包括第一晶體管,而且該第二開關電路可以包括第二晶體管。
該電流供給器可以包括限流電路系統。該限流電路系統被配置為將該輸出電流限制至預定最大電流。該限流電路系統可以包括:感測電阻器,被包括在該第二阻抗內;電路引線,被連接到該感測電阻器的不同端,用于測量該感測電阻器兩端的感測電壓;以及放大器,被配置為在該感測電壓超過預定值時,使該輸出電流停止。該第一阻抗約為50Ω,而該第二阻抗約為10Ω。
一般地,根據另一個方面,本發明涉及ATE,該ATE包括:計算機系統,被配置為將控制信號提供至測試裝置;以及測試裝置,被配置為根據該控制信號來測試半導體器件。該測試裝置包括:管腳,用于對半導體器件提供電壓;以及驅動器,被配置為將該電壓驅動至該管腳。該驅動器包括:第一驅動電路,被配置為經由第一阻抗通道以將測試信號提供至該半導體器件;以及第二驅動電路,被配置為經由第二阻抗通道以將至少部分編程信號提供至該半導體器件。該編程信號的電壓高于該測試信號的電壓,而且該第二阻抗通道的阻抗低于該第一阻抗通道的阻抗。該方面還可以包括一個或者多個如下特征。
該第一驅動電路可以包括:放大器,被配置我響應于輸入電壓信號以產生該測試信號,其中該測試信號包括多個電壓信號之一;以及阻抗電路,位于該第一阻抗通道上。該第二驅動電路可以包括:電流供給器,被配置為輸出電流;放大器,被配置為響應于輸入電壓信號以產生輸出信號;以及第一開關電路,位于該放大器與該電流供給器之間。配置該第一開關電路以響應于該控制信號而閉合。在該第一開關電路閉合時,該輸出電流通過該第一開關電路和該第二阻抗通道,以產生該編程信號的至少一部分。
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