[發明專利]質譜儀

有效

• 申請號: 200680034557.0
• 申請日: 2006-07-21
• 公開（公告）號: CN101288146A
• 公開（公告）日: 2008-10-15
• 發明（設計）人: 約翰·瓦耶斯
• 申請（專利權）人: 英國質譜公司
• 主分類號: H01J49/42
• 分類號: H01J49/42
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 李德山;李春暉

1.一種質譜儀，包括：

包括多個電極的質量或質荷比選擇離子捕獲器；

布置在所述質量或質荷比選擇離子捕獲器的下游的第一質量過濾器/分析器或質譜儀；以及

控制裝置，被布置成和適合于：

(i)使得離子根據它們的質量或質荷比從所述離子捕獲器有選擇地噴出或釋放；以及

(ii)以與離子從所述離子捕獲器的有選擇噴出或釋放基本上同步的方式掃描所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀。

2.如權利要求1所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀包括質量或質荷比掃描質量過濾器/分析器或質譜儀。

3.如權利要求1或2所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀包括四極質量過濾器/分析器或質譜儀。

4.如權利要求1、2或3所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀包括四極桿集質量過濾器/分析器或質譜儀。

5.如權利要求1或2所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀包括磁式扇形質量過濾器/分析器或質譜儀。

6.如任何前述權利要求所述的質譜儀，其中所述離子捕獲器具有從以下分辨率中選擇的質量或質荷比分辨率：(i)＜1；(ii)1-5；(iii)5-10；(iv)10-15；(v)15-20；(vi)20-25；(vii)25-30；(viii)30-35；(ix)35-40；(x)40-45；(xi)45-50；(xii)50-100；(xiii)100-150；(xiv)150-200；(xv)200-250；(xvi)250-300；(xvii)300-350；(xviii)350-400；(xix)400-450；(xx)450-500；(xxi)500-600；(xxii)600-700；(xxiii)700-800；(xxiv)800-900；(xxv)900-1000；以及(xxvi)＞1000。

7.如任何前述權利要求所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀具有從以下分辨率中選擇的質量或質荷比分辨率：(i)＜100；(ii)100-200；(iii)200-300；(iv)300-400；(v)400-500；(vi)500-600；(vii)600-700；(viii)700-800；(ix)800-900；(x)900-1000；(xi)1000-1500；(xii)1500-2000；(xiii)2000-2500；(xiv)2500-3000；以及(xv)＞3000。

8.如任何前述權利要求所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀的質量或質荷比分辨率大于所述離子捕獲器的質量或質荷比分辨率。

9.如任何前述權利要求所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀的質量或質荷比分辨率相對于所述離子捕獲器的質量或質荷比分辨率的倍因數選自于：(i)1-2；(ii)2-3；(iii)3-4；(iv)4-5；(v)5-6；(vi)6-7；(vii)7-8；(viii)8-9；(ix)9-10；(x)10-11；(xi)11-12；(xii)12-13；(xiii)13-14；(xiv)14-15；(xv)15-16；(xvi)16-17；(xvii)17-18；(xviii)18-19；(xix)19-20；(xx)20-50；(xxi)50-100；(xxii)100-150；(xxiii)150-200；(xxiv)200-250；以及(xxv)＞250。

10.如任何前述權利要求所述的質譜儀，其中所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀被布置成接收已從所述離子捕獲器有選擇地噴出或釋放的離子。

11.如任何前述權利要求所述的質譜儀，其中所述控制裝置被布置成和適合于使得離子根據它們的質量或質荷比從所述離子捕獲器依次地或漸進地噴出或釋放。

12.如任何前述權利要求所述的質譜儀，其中所述控制裝置被布置成和適合于以基本上連續和/或線性和/或漸進和/或規則方式掃描所述第一質量過濾器/分析器或質譜儀。