[發(fā)明專利]微光刻投影光學(xué)系統(tǒng)、用于制造裝置的方法以及設(shè)計(jì)光學(xué)表面的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200680033544.1 | 申請(qǐng)日: | 2006-09-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101263430A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | H-J·曼恩;W·烏爾里希;M·普萊托里爾斯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 卡爾蔡司SMT股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F7/20 | 分類號(hào): | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 | 代理人: | 楊曉光;于靜 |
| 地址: | 德國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 德國(guó);DE |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微光 投影 光學(xué)系統(tǒng) 用于 制造 裝置 方法 以及 設(shè)計(jì) 光學(xué) 表面 | ||
1.一種微光刻投影光學(xué)系統(tǒng),包括:
多個(gè)元件,其被設(shè)置為將來(lái)自物平面的波長(zhǎng)為λ的光成像到像平面,至少一個(gè)所述元件是反射元件,其具有位于光路上的旋轉(zhuǎn)非對(duì)稱表面,
其中,在至少一個(gè)位置,所述旋轉(zhuǎn)非對(duì)稱表面從最佳擬合旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面偏離至少λ。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述最佳擬合旋轉(zhuǎn)非對(duì)稱表面從對(duì)應(yīng)于下面的公式的表面偏離小于或等于約0.1λ:
其中
z是平行于軸的表面的垂度,c是頂點(diǎn)曲率,k是錐體常量,Cj是單項(xiàng)式xmyn的系數(shù),以及α是整數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,在一個(gè)或多個(gè)位置,所述旋轉(zhuǎn)非對(duì)稱表面從所述最佳擬合旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面偏離大于或等于約10λ。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,在一個(gè)或多個(gè)位置,所述旋轉(zhuǎn)非對(duì)稱表面從所述最佳擬合旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面偏離大于或等于約20nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述多個(gè)元件定義子午面,并且所述元件相對(duì)于所述子午面是鏡面對(duì)稱的。
6.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述多個(gè)元件包括兩個(gè)反射元件,所述反射元件具有位于光路上的旋轉(zhuǎn)非對(duì)稱表面。
7.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述多個(gè)元件包括不超過(guò)兩個(gè)的反射元件,所述反射元件具有正的主光線角度放大率。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述多個(gè)元件包括不超過(guò)一個(gè)的反射元件,所述反射元件具有正的主光線角度放大率。
9.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述微光刻投影光學(xué)系統(tǒng)具有大于或等于約0.2的像側(cè)數(shù)值孔徑。
10.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述光學(xué)系統(tǒng)在像平面上具有矩形場(chǎng),并且,其中,在正交方向的每個(gè)方向上,所述矩形場(chǎng)在彼此正交的兩個(gè)方向上都具有大于或等于約1mm的最小尺寸。
11.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,在所述像場(chǎng)處的靜態(tài)畸變?yōu)樾∮诨虻扔诩s10nm。
12.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,在所述像場(chǎng)處的波前誤差是小于或等于約λ/14。
13.根據(jù)權(quán)利要求1的光學(xué)系統(tǒng),其中,所述主光線在物平面上彼此發(fā)散。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于卡爾蔡司SMT股份有限公司,未經(jīng)卡爾蔡司SMT股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200680033544.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F7-00 圖紋面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工藝;圖紋面照相制版用的材料,如:含光致抗蝕劑的材料;圖紋面照相制版的專用設(shè)備
G03F7-004 .感光材料
G03F7-12 .網(wǎng)屏印刷模或類似印刷模的制作,例如,鏤花模版的制作
G03F7-14 .珂羅版印刷模的制作
G03F7-16 .涂層處理及其設(shè)備
G03F7-20 .曝光及其設(shè)備





