[發(fā)明專利]去污性提高的紡織品材料及其制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680031978.8 | 申請日: | 2006-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN101253293A | 公開(公告)日: | 2008-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | X·方;M·E·梅多斯 | 申請(專利權(quán))人: | 美利肯公司 |
| 主分類號: | D06M23/08 | 分類號: | D06M23/08;D06M11/45;D06M11/79 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 沙捷;彭益群 |
| 地址: | 美國南卡*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 去污 提高 紡織品 材料 及其 制造 方法 | ||
發(fā)明領(lǐng)域
本發(fā)明涉及表現(xiàn)出去污性提高的紡織品材料及其制造方法。
背景技術(shù)
紡織品材料(例如織物)的沾污是紡織品制造商和用戶一直關(guān)注并將持續(xù)關(guān)注的領(lǐng)域。在致力于這些關(guān)注的努力中,已經(jīng)進行了若干努力,以開發(fā)可以應用于紡織品材料以便增加材料的防沾污能力(例如通過排沾劑)的整理劑和/或可以在紡織品材料纖維結(jié)構(gòu)上累積的去污劑。例如,已經(jīng)開發(fā)出硅氧烷整理劑,以增加紡織品材料防水基沾污劑沾污的能力。另外,已經(jīng)開發(fā)出含氟化合物整理劑,其使使用其處理過的紡織品材料具有抗污性和去污性。
盡管開發(fā)這種整理劑的在先努力已經(jīng)取得了不同程度的成功,但仍有對如下整理劑的需求:使紡織品材料去污性提高,并且相對廉價,應用于紡織品材料所需的專門處理最少。
本發(fā)明提供了這樣的整理劑及其制造方法。從本文提供的對本發(fā)明的說明,本發(fā)明的這些和其他優(yōu)勢以及額外的發(fā)明特征將會是顯而易見的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了經(jīng)處理的紡織品材料,其包括具有表面的紡織品材料和應用于紡織品材料至少部分表面的整理劑,該整理劑包括當懸浮于水相介質(zhì)中時表現(xiàn)出正表面電荷的至少一種顆粒組分。
本發(fā)明進一步提供了經(jīng)處理的紡織品材料的制造方法,該方法包括如下步驟:(a)提供具有表面的紡織品材料,(b)提供包括介質(zhì)和至少一種顆粒組分的懸浮液,當該顆粒組分懸浮于水相介質(zhì)中時表現(xiàn)出正表面電荷,(c)將懸浮液應用于紡織品材料的至少部分表面上,和(d)加熱紡織品材料,使紡織品材料基本干燥,并在紡織品材料表面上產(chǎn)生包括顆粒組分的整理劑。
具體實施方式
本發(fā)明提供了經(jīng)處理的紡織品材料,其包括至少一部分紡織品材料的表面應用有整理劑的紡織品材料。該整理劑包括(或基本由其組成)當懸浮于水相介質(zhì)中時表現(xiàn)出正表面電荷的至少一種顆粒組分。
本發(fā)明的經(jīng)處理的紡織品材料可以包括任何合適的紡織品材料。例如,紡織品材料可以具有針織、機織或非織造結(jié)構(gòu),可以包括由天然纖維、再生纖維、合成纖維或其組合構(gòu)成的紗線或多條紗線。在一個實施方式中,紡織品材料是服裝織物(apparel?fabric),例如適合用作衣服、特別是短襪的針織、機織或非織造織物。當紡織品材料是服裝織物時,該織物優(yōu)選是由形成織物的具有多個聯(lián)鎖圈(interlockingloop)的紗線或多條紗線構(gòu)成的針織織物?;蛘?,織物可以是針織或機制結(jié)構(gòu)的起絨織物,該織物優(yōu)選在其至少一個表面上具有絨頭(絨圈或割絨)或絨毛。
形成紡織品材料的紗線可以包括任何合適的纖維或纖維組合。例如,如上所述,紗線可以包括天然纖維、再生纖維、合成纖維或其組合。合適的纖維包括但不限于,棉、羊毛、尼龍、聚酯、聚丙烯腈系纖維、斯潘德克斯(spandex)和芳族聚酰胺。在一個實施方式中,紗線或多條紗線包括天然纖維或多種天然纖維的組合。優(yōu)選地,紗線或多條紗線包括基于纖維重量為大約5wt.%或更多、更優(yōu)選大約10wt.%或更多(例如大約25wt.%或更多,或大約40wt.%或更多)、最優(yōu)選大約50wt.%或更多的天然纖維或多種天然纖維的組合。優(yōu)選地,天然纖維選自棉、羊毛及其組合。
應用于紡織品材料表面的整理劑可以包括任何合適的顆粒組分。優(yōu)選地,當顆粒組分懸浮于水相介質(zhì)中時表現(xiàn)出正表面電荷,水相介質(zhì)是例如pH為大約4至8的水相介質(zhì)。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將會認識到,顆粒組分的表面電荷可以使用任何已知技術(shù)測定,例如測量顆粒懸浮于水相介質(zhì)時表現(xiàn)的ζ-電勢。在某些實施方式中,當在pH為大約2至大約7的水相介質(zhì)中測量時,顆粒組分優(yōu)選表現(xiàn)出大約80毫伏或更低(例如大約2至大約80毫伏)、更優(yōu)選大約20至大約50毫伏(例如大約25至大約45毫伏)的正ζ-電勢。
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