[發明專利]錯誤糾正方法無效
| 申請號: | 200680031774.4 | 申請日: | 2006-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN101253692A | 公開(公告)日: | 2008-08-27 |
| 發明(設計)人: | 近藤浩章;清水史郎 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | H03M13/29 | 分類號: | H03M13/29;H03M13/15;G11B20/18 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 曲瑞 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 錯誤 糾正 方法 | ||
1.一種錯誤糾正方法,針對雙重編碼后的代碼字,在解碼時進行錯誤檢測和錯誤糾正,所述雙重編碼通過以下方式進行:利用多個信息數據和向所述多個信息數據附加的最小距離為d1(d1為2以上的整數)的第1檢查數據,形成第1糾正幀,對于由多個所述第1糾正幀構成的數據集合,利用由從所述第1糾正幀的每一個中選擇的符號構成的數據序列和向該數據序列附加的最小距離為d2(d2為2以上的整數)的第2檢查數據,形成多個第2糾正幀,其特征在于,所述錯誤糾正方法包括以下步驟:
第1錯誤檢測·糾正步驟,使用所述第2檢查數據進行所述第2糾正幀的錯誤檢測·糾正;
標志產生步驟,根據所述第1錯誤檢測·糾正步驟中的錯誤檢測·糾正的結果,針對檢測出錯誤但沒能進行錯誤糾正的每個所述第2糾正幀產生標志Ex,針對檢測出錯誤并且進行了錯誤糾正的每個所述第2糾正幀產生標志Ey;以及
第2錯誤檢測·糾正步驟,對于針對所述第2糾正幀使用所述第2檢查數據進行了錯誤檢測·糾正后的數據集合中的所述第1糾正幀,在利用所述第1檢查數據進行錯誤檢測·糾正時,將所述標志Ex和Ey的位置作為消失位置,一次進行到(d1-1)個為止的消失糾正。
2.如權利要求1所述的錯誤糾正方法,其特征在于,
所述第2錯誤檢測·糾正步驟在對針對所述第2糾正幀使用所述第2檢查數據進行了錯誤檢測·糾正后的數據集合中的所述第1糾正幀,利用所述第1檢查數據進行錯誤檢測·糾正時,一次進行將所述標志Ex和Ey的位置作為消失位置并且滿足n+2m≤d1-1(n、m是0以上的整數)的關系式的、到n個為止的消失糾正和到m個為止的錯誤位置不明的錯誤的糾正。
3.如權利要求2所述的錯誤糾正方法,其特征在于,
所述第2錯誤檢測·糾正步驟可以選擇是否將所述標志Ey的位置作為消失位置。
4.如權利要求3所述的錯誤糾正方法,其特征在于,
如果設所述第1糾正幀中的所述標志Ex的個數為x,則在x≥z(z為0以上的任意整數)的情況下,所述第2錯誤檢測·糾正步驟利用所述標志Ex和Ey來進行消失糾正,在x<z的情況下,僅利用所述標志Ex來進行消失糾正。
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