[發明專利]多重散射校正

無效

• 申請號: 200680024504.0
• 申請日: 2006-07-06
• 公開（公告）號: CN101218501A
• 公開（公告）日: 2008-07-09
• 發明（設計）人: A·特倫;J－P·施洛姆卡
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01N23/20;A61B6/03;A61B5/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 王英

1.一種用于檢查感興趣對象(107)的檢查裝置(100)，該檢查裝置(100)包括：

輻射源(104)，其適于發射電磁輻射；

檢測器部件，其具有至少一個用于采集輻射強度數據的檢測單元(123)；

預處理部件(125)，所述預處理部件(125)適于：

確定所述輻射強度數據的特征峰附近的第一多重散射強度；

基于所述第一多重散射強度校正所述輻射強度數據。

2.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，

其中，所述檢測器部件包括第一檢測單元(123)和第二檢測單元(123)；以及

其中，對所述第一檢測單元(123)和所述第二檢測單元(123)執行所述確定過程。

3.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，

其中，所述檢測器部件還包括第三檢測單元(124)，其用于采集透射強度數據；

其中，基于對對于所述第一檢測單元和所述第二檢測單元中的每一個測得的全部能量范圍的第二多重散射強度的估計，來執行所述校正；以及

其中，基于所述第一多重散射強度和所述透射強度數據執行所述估計。

4.根據權利要求2所述的檢查裝置(100)，

其中，所述預處理部件(125)還適于對多個所述檢測單元(123)的相鄰檢測單元的所述第一多重散射強度進行平滑。

5.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，

其中，所述檢查裝置(100)適于作為計算機斷層攝影裝置、相干散射計算機斷層攝影裝置、吸收成像系統、或X射線散射檢查裝置中的一種。

6.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，還包括：

準直儀(105)，其布置在所述輻射源(104)和所述檢測單元(123)之間；

其中，所述準直儀(105)適于準直由所述輻射源(104)發射的電磁輻射，從而形成扇形束或錐形束中的一種。

7.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，其中，所述檢測單元(123、124)形成單層檢測器陣列。

8.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，其中，所述檢測單元(123、124)形成多層檢測器陣列(108)。

9.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，配置為包括下列的組中的一種：行李檢驗裝置、醫療應用裝置、材料測試裝置和材料科學分析裝置。

10.根據權利要求1所述的檢查裝置(100)，其中，所述輻射源(104)適于發射包括至少一個特征峰的多色X射線束。

11.一種使用檢查裝置(100)檢查感興趣對象(107)的方法，該檢查裝置(100)包括適于發射電磁輻射的輻射源(104)、具有至少一個用于采集輻射強度數據的檢測單元(123)的檢測器部件，以及預處理部件(125)，所述方法包括如下步驟：

確定所述輻射強度數據的特征峰附近的第一多重散射強度；以及

基于所述第一多重散射強度校正所述輻射強度數據。

12.一種使用檢查裝置檢查感興趣對象(107)的圖像處理設備，該圖像處理設備包括：

用于存儲輻射強度數據的存儲器；

預處理部件(125)，其適于：

確定輻射強度數據的特征峰附近的第一多重散射強度；以及

基于所述第一多重散射強度校正所述輻射強度數據。

13.一種計算機可讀介質(402)，其中存儲了使用檢查裝置(100)檢查感興趣對象(107)的計算機程序，當由處理器(401)執行時，該計算機程序適于實施下列步驟：

確定輻射強度數據的特征峰附近的第一多重散射強度；以及

基于所述第一多重散射強度校正所述輻射強度數據。

14.一種檢查感興趣對象(107)的程序單元，其當由處理器(401)執行時適于實施下列步驟：

確定輻射強度數據的特征峰附近的第一多重散射強度；以及

基于所述第一多重散射強度校正所述輻射強度數據。