[發(fā)明專利]聲共振器及濾波器無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680023789.6 | 申請日: | 2006-06-22 |
| 公開(公告)號: | CN101213744A | 公開(公告)日: | 2008-07-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 中塚宏;大西慶治;中村弘幸;巖崎智弘;鶴見直大 | 申請(專利權(quán))人: | 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社 |
| 主分類號: | H03H9/17 | 分類號: | H03H9/17;H03H9/58 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 陳英俊 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 共振器 濾波器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及聲共振器及濾波器,尤其涉及能夠抑制亂真振動的產(chǎn)生的聲共振器、以及使用該聲共振器的濾波器。
背景技術(shù)
內(nèi)置在便攜式設(shè)備等電子設(shè)備中的部件要求小型化及輕量化。例如,在便攜式設(shè)備中使用的濾波器要求小型化,并且要求能夠進(jìn)行頻率特性的精密調(diào)節(jié)。作為滿足這些要求的濾波器之一,已知有使用聲共振器的濾波器(參照專利文獻(xiàn)1~3)。
以下,參照圖13A~圖13D,說明專利文獻(xiàn)1記載的以往的聲共振器。
圖13A是表示以往的聲共振器的基本構(gòu)造的剖面圖。以往的聲共振器是通過上部電極102和下部電極103夾持壓電體101的構(gòu)造。該以往的聲共振器載置在形成有腔體104的基板105上使用。可以利用微細(xì)加工法從基板105的背面進(jìn)行局部蝕刻,來形成腔體104。該以往的聲共振器通過上部電極102和下部電極103在厚度方向上施加電場,產(chǎn)生厚度方向的振動。接著,利用無限平板的厚度縱振動進(jìn)行以往的聲共振器的動作說明。
圖13B是用來說明以往的聲共振器的動作的示意性的立體圖。以往的聲共振器中,如果在上部電極102與下部電極103之間施加電場,則通過壓電體101將電能變換為機械能。被激勵的機械振動是厚度方向拉伸振動,在與電場相同的方向上進(jìn)行伸縮。一般,以往的聲共振器利用壓電體101的厚度方向的共振振動,以厚度等于半波長的頻率的共振動作。圖13A所示的腔體104是為了確保該壓電體101的厚度縱振動而利用的。
該以往的聲共振器的等價電路如圖13D所示,是同時具有串聯(lián)共振與并聯(lián)共振的等價電路。該等價電路通過由電容器C1、電感器L1及電阻R1構(gòu)成的串聯(lián)共振部、和與串聯(lián)共振部并聯(lián)連接的電容器C0構(gòu)成。通過該電路結(jié)構(gòu),等價電路的導(dǎo)納頻率特性如圖13C所示,在共振頻率fr下導(dǎo)納成為最大,在反共振頻率fa下導(dǎo)納成為最小。這里,共振頻率fr與反共振頻率fa具有以下的關(guān)系。
fr=1/{2π√(L1×C1)}
fa=fr√(1+C1/C0)
在使用具有這樣的導(dǎo)納頻率特性的以往的聲共振器作為濾波器的情況下,由于利用壓電體101的共振振動,所以能夠?qū)崿F(xiàn)小型且低損耗的濾波器。
這里,在較大地影響聲共振器特性的壓電薄膜,期望使用高品質(zhì)的壓電薄膜。因此,提出了各種用來實現(xiàn)高品質(zhì)的壓電薄膜的制造方法(參照專利文獻(xiàn)4)。圖14是用來說明在專利文獻(xiàn)4中公開的以往的聲共振器的制造方法的順序的圖。
首先,蝕刻基板111,然后在基板111上形成作為腔體112的凹陷(圖14(a))。接著,在基板111的整個面上形成替代腐蝕層115(圖14(b))。接著,進(jìn)行平坦化以使基板111的表面與替代腐蝕層115的表面成相等高度(圖14(c))。接著,在其上部分別層疊下部電極121、壓電薄膜122及上部電極123,形成振動部120(圖14(d))。最后,通過蝕刻除去替代腐蝕層115而設(shè)置腔體112,聲共振器完成(圖14(c))。在該專利文獻(xiàn)4中,為了提高壓電薄膜的結(jié)晶性,通過規(guī)定作為下部電極121的鉬(Mo)的膜厚及平坦性,實現(xiàn)了使用濺鍍法時的高品質(zhì)的壓電薄膜。
專利文獻(xiàn)1:日本特開昭60-68711號公報
專利文獻(xiàn)2:日本特開2003-158309號公報
專利文獻(xiàn)3:美國專利第5587620號說明書
專利文獻(xiàn)4:日本特許第2800905號公報
專利文獻(xiàn)5:美國專利第6060818號說明書
上述以往的聲共振器是一部分固定在基板105上的構(gòu)造,所以振動部所產(chǎn)生的振動的一部分無論如何也會傳遞到基板105。傳遞到該基板105的不必要振動,在基板105的底面反射而返回到振動部側(cè),所以會給振動部的主共振振動帶來影響(圖15的箭頭e)。
該影響如圖16A所示,在振動部的共振頻率與反共振頻率之間產(chǎn)生亂真振動。如果將具有這樣的亂真振動的聲共振器如圖16B那樣并聯(lián)連接而形成濾波器,則如圖16C所示,在通帶的局部出現(xiàn)不希望的通過特性。該通過特性導(dǎo)致通信品質(zhì)降低。
此外,根據(jù)以往的制造方法,壓電薄膜的結(jié)晶性受基底較大影響。因此,對于作為基底的材料,要求高結(jié)晶性及高平坦性。由此,如果由壓電薄膜及上下電極構(gòu)成的振動部和基板之間的構(gòu)造變得復(fù)雜,則對壓電薄膜的基底膜的結(jié)晶性及平坦性產(chǎn)生影響。因此,例如對于平坦性,在壓電薄膜的成膜前需要進(jìn)行平坦化工藝等的工藝,有工藝變得復(fù)雜的問題。
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