[發明專利]校準質譜嗅測檢漏器的方法

有效

• 申請號: 200680022012.8
• 申請日: 2006-06-02
• 公開（公告）號: CN101203738A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: 諾貝特·羅爾夫;蘭道夫·保羅·羅爾夫;盧多爾夫·格道
• 申請（專利權）人: 因菲康有限公司
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 李德山;楊生平

1.一種針對要檢測的不同示蹤氣體來校準光譜測定檢漏器的方法，所述方法包括使用限定的校準氣體，所述限定的校準氣體優先通過測試泄漏口漏出，其中，所述校準氣體的光譜測定波峰被確定，其特征在于，

使用具有已知泄漏率的校準氣體的至少一個波峰的被測振幅來確定設備因數，

根據所述校準氣體的已知比例因數和所測試的氣體的已知比例因數以及所述設備因數，確定針對所測試的氣體的校準。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述校準氣體或者根據包含在空氣中的氣體(Ar)來確定至少一個所限定的波峰的光譜位置。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，將所述光譜位置的零點用作已知的固定點。

4.根據權利要求1至3中的任意一項所述的方法，其特征在于，根據所測試的氣體的波峰在光譜軸中的已知光譜位置通過對一個波峰和/或多個波峰和/或質量軸的零點進行插值和/或外推，來確定所測試的氣體的波峰。

5.根據權利要求1至4中的任意一項所述的方法，其特征在于，在兩個測得的波峰之間和/或在光譜軸的零點和測得的波峰之間，通過線性插值確定光譜位置。

6.根據權利要求1至4中的任意一項所述的方法，其特征在于，在位于所測得的波峰的范圍之外的外推范圍內，通過在所述外推范圍內保持在最后的波峰處所檢測到的光譜位置的偏移來確定光譜位置。

7.根據權利要求1至6中的任意一項所述的方法，其特征在于，在測量測試泄漏口的波峰的振幅期間，通過經由光譜軸進行插值和/或外推針對要測量的其它氣體來校正偏離已知比例因數的振幅分布。