[發明專利]用于檢測行進中的長產品的表面和結構缺陷的方法和設備

有效

• 申請號: 200680021362.2
• 申請日: 2006-06-12
• 公開（公告）號: CN101198858A
• 公開（公告）日: 2008-06-11
• 發明（設計）人: 皮埃爾－讓·雅南;馬蒂厄·佩薩爾德
• 申請（專利權）人: 西門子VAI金屬技術股份公司
• 主分類號: G01N21/89
• 分類號: G01N21/89;G01N25/72;B21B38/00
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 余朦;方挺

1.一種用于檢測在軋制設備中行進的產品(1)的缺陷的方法，所述方法包括至少一個照明操作(ECL)、獲取操作(ACQ)、預處理操作(PTTRM)、質量可疑區域的檢測和提取操作(DETEXTR)以及分類操作(CLASS)，所述照明操作在于利用光源(6)照亮所述行進產品，所述獲取操作在于通過掃描而形成在第一光譜帶中觀察到的所述行進產品的第一圖像，所述預處理操作至少在于由所述產品的觀察區域的所述第一圖像產生所述區域的第一數字化亮度分布，所述檢測和提取操作在于利用所述產品的所述觀察區域的所述第一數字化亮度分布來檢測所述區域中可能的缺陷的存在和位置，以及所述分類操作至少在于通過將所述質量可疑區域的形態的和/或光度特征與保存在預先創建的數據庫中的已知缺陷和已知無缺陷的形態的和/或光度特征進行比較，而將所述質量可疑區域分成一個或多個缺陷種類或者無缺陷種類；其特征在于，所述方法被應用于在熱軋設備中行進并且自發地發出光輻射的產品(1)，所述光輻射位于包括紅外線在內的自發輻射光譜中；其特征還在于，所述照明操作(ECL)通過利用可見光源(6)照亮所述行進產品來執行，所述光源(6)發出至少在所述自發輻射光譜之外的光；其特征還在于，所述獲取操作(ACQ)在于形成所述產品的同一觀察區域的至少三個圖像(I₁，I₂，I₃)，所述至少三個圖像位于三個各自不相鄰的光譜帶中，所述三個各自不相鄰的光譜帶中的第一光譜帶至少位于紅外區中、第二光譜帶至少位于紅色區域中、以及第三光譜帶至少位于所述自發輻射光譜之外的可見光譜的一部分中；其特征還在于，所述預處理操作(PTTRM)至少在所述三個圖像(I₁，I₂，I₃)上執行，以提供至少三個通過多個比特進行數字化的各自的亮度分布(DL_IR，DL_R，DL_V，DL₄)；其特征還在于，所述質量可疑區域(Z_IR，Z_R，Z_V，Z₄)的所述檢測和提取操作(DETEXTR)至少在所述數字化亮度分布(DL_IR，DL_R，DL_V，DL₄)上執行；其特征還在于，所述分類操作(CLASS)在于至少通過將所述質量可疑區域(Z_IR，Z_R，Z_v和Z₄)的形態的和/或光度特征及其在所述數字化亮度分布(DL_IR，DL_R和DL_V)中的分配，與預先創建的數據庫中保存的已知內部缺陷、已知表面缺陷和已知無缺陷的相應的數字化分布中的形態的和/或光度特征以及分配進行比較，從而至少將從所述數字化亮度分布(DL_IR，DL_R，DL_V，DL₄)中提取出的所述質量可疑區域(Z_IR，Z_R，Z_v和Z₄)分成產品內部缺陷、產品表面缺陷或產品無缺陷中的一類或多類。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述圖像(I₁，I₂，I₃)通過各自的傳感器(313)而形成，所述傳感器至少對紅外線敏感且產生各自的未加工的圖像(I₁₁₀，I₂₁₀，I₃₁₀)，其特征還在于，第一圖像(I₁)形成于紅外區域中，并且直接通過在使波長比紅外線短的輻射無法穿透的濾光器后面捕獲第一未加工的圖像(I₁₁₀)而得到，其特征還在于，第二和第三圖像(I₂，I₃)分別通過從第二和第三未加工的圖像(I₂₁₀，I₃₁₀)中減去所述第一未加工的圖像(I₁₁₀)而得到。

3.如權利要求1或者2所述的方法，其特征在于，所述照明操作(ECL)在于利用綠光光源(4)照亮所述產品，其特征還在于，所述第三圖像形成于綠色區域中。