[發(fā)明專利]基于光學(xué)的傳感裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680021119.0 | 申請日： | 2006-03-29 |
| 公開（公告）號： | CN101198857A | 公開（公告）日： | 2008-06-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 小A·E·科爾文;C·J·奧康納;A·D·德埃尼斯 | 申請（專利權(quán)）人： | 醫(yī)藥及科學(xué)傳感器公司 |
| 主分類號： | G01N21/77 | 分類號： | G01N21/77;G01N21/64;A61B5/00;F21V19/00 |
| 代理公司： | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人： | 蔡勝利 |
| 地址： | 美國馬*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 光學(xué) 傳感 裝置 | ||
1.一種光電傳感裝置，其用于檢測分析物的存在或者濃度，包括：
外殼，其具有外表面；
多個示蹤劑分子，其位于所述外殼的外表面的至少一部分上；
電路板，其容納在所述外殼中；
支撐構(gòu)件，其具有側(cè)面，所述側(cè)面位于與電路板的頂側(cè)所在的平面大致垂直的平面上；
輻射源，其安裝在支撐構(gòu)件的所述側(cè)面上，并且位于電路板的頂側(cè)之上的一段距離處；以及
光檢測器，其與電路板相連，用于檢測示蹤劑分子的響應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述電路板在其頂側(cè)具有凹槽，并且所述支撐構(gòu)件具有插入所述凹槽中的端部。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述距離在大約0.010英寸和0.030英寸之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電傳感裝置，其特征在于，還包括反射器，所述反射器與輻射源間隔開，并且具有面向輻射源的反射側(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述光檢測器設(shè)置在輻射源和反射器的反射側(cè)之間的區(qū)域下方的位置處。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述光檢測器具有光敏側(cè)，所述光敏側(cè)面對的方向大致垂直于所述反射器的反射側(cè)面對的方向。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述光檢測器的光敏側(cè)設(shè)置在電路板的頂側(cè)的下方。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述電路板具有從其頂側(cè)延伸到底側(cè)的孔。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述光檢測器安裝在所述電路板的底側(cè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述電路板在其頂側(cè)具有凹槽，所述反射器具有插入所述凹槽中的端部。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電傳感裝置，其特征在于，在所述支撐構(gòu)件的表面上設(shè)置有第一電觸點(diǎn)，輻射源與所述電觸點(diǎn)電連接。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述第一電觸點(diǎn)與設(shè)置在電路板上的第二電觸點(diǎn)電連接。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的光電傳感裝置，其特征在于，還包括布置在支撐構(gòu)件上或者內(nèi)部的電路布線，所述電路布線用于將所述第一電觸點(diǎn)與第二電觸點(diǎn)電連接。
14.一種光電傳感裝置，其用于檢測分析物的存在或者濃度，包括：
外殼，其具有外表面；
多個示蹤劑分子，其位于所述外殼的外表面的至少一部分上；
電路板，其容納在所述外殼中；
光檢測器，其具有頂側(cè)和底側(cè)，其中，所述光檢測器與所述電路板上的電路電連接，并且至少所述光檢測器的頂側(cè)是光敏的；
濾波器，其具有頂側(cè)和底側(cè)，所述底側(cè)設(shè)置在光檢測器的頂側(cè)的上方；以及
輻射源，其設(shè)置在所述濾波器的頂側(cè)的上方。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光電傳感裝置，其特征在于，還包括基座，所述基座具有頂側(cè)和底側(cè)，所述基座的底側(cè)與電路板的端部相連，并且光檢測器的底側(cè)安裝在所述基座的頂側(cè)上。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述基座的頂側(cè)位于與電路板的頂側(cè)所在的平面大致垂直的平面中。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述光檢測器的頂側(cè)大致平行于所述基座的頂側(cè)。
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的光電傳感裝置，其特征在于，所述基座的底側(cè)中具有凹槽，電路板的端部插入所述凹槽中。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的光電傳感裝置，其特征在于，還包括：
第一電觸點(diǎn)，其設(shè)置在所述基座上；以及
第二電觸點(diǎn)，其設(shè)置在所述基座上，
其中，
所述光檢測器與所述第一電觸點(diǎn)電連接，以及
所述輻射源與所述第二電觸點(diǎn)電連接。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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