[發(fā)明專利]利用多個(gè)旋轉(zhuǎn)構(gòu)造的磁性傳感器的角度位置檢測(cè)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200680017827.7 | 申請(qǐng)日: | 2006-03-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101180519A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-05-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | L·F·里克斯;M·J·拉托里亞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 霍尼韋爾國(guó)際公司 |
| 主分類號(hào): | G01D5/16 | 分類號(hào): | G01D5/16 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王慶海;王小衡 |
| 地址: | 美國(guó)新*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 旋轉(zhuǎn) 構(gòu)造 磁性 傳感器 角度 位置 檢測(cè) | ||
1.一種磁性檢測(cè)方法,包括:
提供包括中心位置的沖模;
在所述沖模上設(shè)置多個(gè)磁阻橋電路;
利用繞所述沖模的所述中心位置的軸旋轉(zhuǎn)的磁場(chǎng)來(lái)偏置所述多個(gè)磁阻橋電路,從而產(chǎn)生多個(gè)電橋輸出信號(hào),其中利用磁性偏置元件來(lái)偏置所述多個(gè)磁阻橋電路;以及
處理所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)以便測(cè)定出位置數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中處理所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)以便測(cè)定出位置數(shù)據(jù)的步驟還包括:
通過(guò)計(jì)算所述多個(gè)磁阻橋電路當(dāng)中的選定磁阻橋電路的所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)的比率,從而測(cè)定出所述位置數(shù)據(jù);以及
施加選定校正因數(shù)到該比率以測(cè)定所述位置數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,還包括從多個(gè)校正因數(shù)中選擇所述選定校正因數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其中所述多個(gè)校正因數(shù)以預(yù)定函數(shù)共同降低。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其中所述預(yù)定函數(shù)包括正弦函數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中處理所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)從而測(cè)定出位置數(shù)據(jù)的步驟還包括:
擬合所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)到至少一個(gè)曲線;以及
利用所述至少一個(gè)曲線的交叉點(diǎn)來(lái)測(cè)定所述位置數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中處理所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)從而測(cè)定出位置數(shù)據(jù)的步驟還包括:
當(dāng)所述磁性偏置元件靠近、通過(guò)和離開(kāi)至少一個(gè)磁阻橋電路時(shí)測(cè)定所述多個(gè)磁阻橋電路當(dāng)中的所述至少一個(gè)磁阻橋電路的特征曲線;以及
擬合所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)到所述特征曲線來(lái)測(cè)定所述位置數(shù)據(jù)。
8.一種磁性檢測(cè)方法,包括:
提供包括中心位置的沖模;
在所述沖模上設(shè)置多個(gè)磁阻橋電路,其中所述多個(gè)磁阻橋電路中的每個(gè)磁阻橋電路包括至少一個(gè)傳感器;
利用繞所述沖模的所述中心位置的軸旋轉(zhuǎn)的磁場(chǎng)來(lái)偏置所述多個(gè)磁阻橋電路,從而產(chǎn)生多個(gè)電橋輸出信號(hào),其中利用磁偏置元件來(lái)偏置所述多個(gè)磁阻橋電路,其中所述磁偏置元件以一個(gè)旋轉(zhuǎn)角度繞所述軸旋轉(zhuǎn),該旋轉(zhuǎn)角度選自于在0度至180度之間的角度范圍內(nèi)的至少一個(gè)角度,其中所述磁偏置元件利用繞所述沖模的所述中心位置的軸旋轉(zhuǎn)的所述磁場(chǎng)來(lái)偏置所述多個(gè)磁阻橋電路,從而產(chǎn)生所述多個(gè)電橋輸出信號(hào);
處理所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)從而測(cè)定出位置數(shù)據(jù),其中:
當(dāng)所述磁偏置元件靠近、通過(guò)和離開(kāi)至少一個(gè)磁阻橋電路時(shí)測(cè)定所述多個(gè)磁阻橋電路當(dāng)中的所述至少一個(gè)磁阻橋電路的特征曲線;以及
擬合所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)到所述特征曲線來(lái)測(cè)定所述位置數(shù)據(jù)。
9.一種磁性檢測(cè)系統(tǒng),包括:
包括中心位置的沖模;
位于所述沖模上的多個(gè)磁阻橋電路;
磁偏置元件,其利用繞所述沖模的所述中心位置的軸旋轉(zhuǎn)的磁場(chǎng)來(lái)偏置所述多個(gè)磁阻橋電路從而產(chǎn)生多個(gè)電橋輸出信號(hào);以及
用于處理所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)從而測(cè)定出位置數(shù)據(jù)的模塊。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其中所述模塊:
通過(guò)計(jì)算所述多個(gè)磁阻橋電路當(dāng)中的選定磁阻橋電路的所述多個(gè)電橋輸出信號(hào)的比率,從而測(cè)定出所述位置數(shù)據(jù);以及
施加一個(gè)選定的校正因數(shù)到該比率以測(cè)定所述位置數(shù)據(jù)。
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G01D 非專用于特定變量的測(cè)量;不包含在其他單獨(dú)小類中的測(cè)量?jī)蓚€(gè)或多個(gè)變量的裝置;計(jì)費(fèi)設(shè)備;非專用于特定變量的傳輸或轉(zhuǎn)換裝置;未列入其他類目的測(cè)量或測(cè)試
G01D5-00 用于傳遞傳感構(gòu)件的輸出的機(jī)械裝置;將傳感構(gòu)件的輸出變換成不同變量的裝置,其中傳感構(gòu)件的形式和特性不限制變換裝置;非專用于特定變量的變換器
G01D5-02 .采用機(jī)械裝置
G01D5-12 .采用電或磁裝置
G01D5-26 .采用光學(xué)裝置,即應(yīng)用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光
G01D5-42 .采用流體裝置
G01D5-48 .采用波或粒子輻射裝置





