[發明專利]測定施膠劑在紙漿中的施膠劑濃度、粒度和粒度分布的方法無效
| 申請號: | 200680017064.6 | 申請日: | 2006-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN101175984A | 公開(公告)日: | 2008-05-07 |
| 發明(設計)人: | S·錢普;H-P·考伯;J·紐曼;M·施密德 | 申請(專利權)人: | 巴斯福股份公司 |
| 主分類號: | G01N15/14 | 分類號: | G01N15/14;G01N33/34 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 | 代理人: | 劉金輝;林柏楠 |
| 地址: | 德國路*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測定 施膠劑 紙漿 中的 濃度 粒度 分布 方法 | ||
1.測定天然和/或合成膠料在紙漿中或在造紙機白水中的膠料濃度、粒度和粒度分布的方法,其中用熒光染料將膠料的顆粒(Ti)染色,使樣品中的顆粒(Ti)分離并沿預定入射方向將光射入樣品,測量各顆粒(Ti)的至少一個散射光強度值(S(Ti))和/或至少一個熒光強度值(F(Ti)),基于顆粒(Ti)的對值(S(Ti),F(Ti))在通過散射光強度值(S(Ti))、熒光強度值(F(Ti))和對值(S(Ti),F(Ti))的頻率確定的三維空間(R)的區域(Bk)中的位置,將顆粒(Ti)各自與顆粒類型(Ak)相匹配,對于顆粒類型(Ak),各區域(Bk)在空間(R)內具有至少一個對值(S(Ti),F(Ti))的頻率的局部最大值,對各顆粒類型(Ak)測定熒光強度值(F(Ti))的相對頻率,由相應顆粒類型(Ak)的熒光強度值(F(Ti))的相對頻率計算各顆粒類型(Ak)的相對粒度分布,借助通過散射光強度值(S(Ti))、熒光強度值(F(Ti))和對值(S(Ti),F(Ti))的頻率確定的三維空間(R)中的區域(Bk)的位置,將獨立的顆粒類型(Ak)的相對粒度分布相對于彼此歸一化,并由此形成所有顆粒類型(Ak)的顆粒(Ti)的共有相對粒度分布。
2.根據權利要求1的方法,其中為了將獨立的顆粒類型(Ak)的相對粒度分布歸一化,選擇散射光強度值(S(Ti))的具有預定大小的散射光區域(SLB),其具有區域上限和下限,在該區域中,對值(S(Ti),F(Ti))的頻率對所有顆粒類型(Ak)都具有至少一個局部最大值,對各顆粒類型(Ak)確定熒光強度值(F(Ti))的具有預定大小的熒光區域(FLB(Ak)),其對值(S(Ti),F(Ti))也在散射光區域(SLB)內,對各顆粒類型(Ak)測定熒光區域(FLB(Ak))中熒光強度值(F(Ti))的平均值(M(FLB(Ak))),基于顆粒類型(A1)對各顆粒類型(Ak)形成歸一化系數(N(Ak)),其中(N(Ak))=(M(FLB(Ak)))/(M(FLB(A1))),并借助歸一化系數(N(Ak))將顆粒類型(Ak)的相對粒度分布彼此相關。
3.根據權利要求2的方法,其中散射光區域(SLB)通過如下方式確定:在每種情況下對各顆粒類型(Ak)選擇散射光強度值(S(Ti))的具有預定大小的散射光區域(SLB(Ak)),其中對值(S(Ti),F(Ti))的頻率對顆粒類型(Ak)具有至少一個局部最大值;并設定散射光區域(SLB)的上限和下限的平均值等于散射光區域(SLB(Ak))內的散射光強度值(S(Ti))的平均值的平均值。
4.根據前述權利要求任一項的方法,其中散射光區域(SLB)中與各自平均值(M(FLB(Ak)))偏離超過對各顆粒類型(Ak)規定的偏離程度的那些對值(S(Ti),F(Ti))排除在評價外。
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