[發明專利]用于糾錯的裝置、方法和程序

有效

• 申請號: 200680016477.2
• 申請日: 2006-06-08
• 公開（公告）號: CN101228583A
• 公開（公告）日: 2008-07-23
• 發明（設計）人: 田中啟介
• 申請（專利權）人: 國際商業機器公司
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 黃小臨

技術領域

本發明涉及用于糾正從磁帶等記錄介質讀出的數據的錯誤，更詳細的說涉及用于利用積碼塊來糾正數據的錯誤的裝置等。

背景技術

在對記錄介質進行數據的寫入或讀出的數據記錄再現裝置中，一般進行錯誤的檢測和糾正，以便不會由于數據的錯誤而產生重大的故障。特別是近年來，從提高數據的可靠性或數據記錄的高密度化的觀點出發，廣泛進行基于積碼的糾錯。

積碼可以定義為通過將用戶數據配置為行列狀，在行方向以及列方向上配置奇偶校驗碼來構成的行列狀的碼。而且，通常積碼由行方向的C1碼和列方向的C2碼構成，在C1碼中包含作為用于糾正該錯誤的奇偶校驗(parity)碼的C1奇偶校驗，在C2碼中包含作為用于糾正該錯誤的奇偶校驗碼的C2奇偶校驗。在這樣的積碼中，實際的糾錯按照基于C1奇偶校驗的C1碼的糾正(C1糾正)、按照基于C2奇偶校驗的C2碼的糾正(C2糾正)的順序進行。通過這樣的糾正方法，由于在C1糾正中不能糾正的行可以在C2糾正中通過消失糾正來糾正，所以可以糾正較多的錯誤。

而且，作為這樣的積碼的糾正方法，以往提出了多種方法(例如，參照專利文獻1，2)。

專利文獻1：特開平11-203615號公報(第5-7頁，第2圖)

專利文獻2：特開平11-203797號公報(第8、9頁，第2圖)

發明內容

發明要解決的問題

然而，近年來，由于數據記錄再現裝置的大容量化，隨機誤差的發生率有上升的傾向。對于這樣的隨機誤差的發生率的上升，在積碼中一般通過選擇更高的C1糾正能力來對應。

但是，在能夠發生的誤差中，不僅有這樣的隨機誤差，而且還有因為記錄介質上的傷或磁頭(head)不良等引起的連續產生的連續誤差(burst?error)，在僅考慮隨機誤差而選擇了高C1糾正能力的情況下，還存在對于超過檢測能力的長度的連續誤差，誤糾正的概率上升的問題。

以LTO(線性磁帶開放：Linear?Tape-Open)磁帶驅動中的糾錯方法為例說明該問題。而且，LTO是IBM、惠普(ヒユ一レツトパツカ一ド)、希捷(シ一ゲイトテクノロジ(現カンタム))三個公司共同商定的磁帶格式。

一般的，糾錯碼對于最小代碼間距dmin，可以糾正滿足dmin≥2t+d+1的關系的t字節的錯誤，并且檢測t+d字節的錯誤。

因此，在以往的LTO磁帶驅動的糾錯方法中，首先，設C?1碼的最小代碼間距dmin＝7，為了提高檢測能力采用了t＝2(可以糾正2字節的錯誤)，并且d＝2(能夠檢測4字節的錯誤)的分配。于是，一邊檢測3字節以上的錯誤，一邊對于不能糾正的C1碼用C2碼進行消失糾正。

然而，對于C1碼，為了提高糾正能力設t＝3(可以糾正3字節的錯誤)時，d＝0(可以檢測3字節的錯誤)。即，與能夠糾正2字節的錯誤的情況相比，雖然糾錯能力提高，但是錯誤檢測能力降低。其結果，誤糾正概率上升。該誤糾正概率的上升對于消耗C2碼的糾正能力的連續誤差成為問題。即，C1碼的誤糾正概率的上升傳播到C2碼，并且C2碼的誤糾正概率也上升。在C2碼中產生了誤糾正的情況下，由于數據被發送到主機(host)而未識別是誤糾正的情況，所以產生故障。因為必須避免由于誤糾正而產生故障的概率的上升，所以原樣選擇3字節糾正在實用上存在問題。

這里，如果對專利文獻1、2的發明進行考察，則它們中的任何一個都是以磁頭從磁道脫落的問題為對象，通過用兩個磁頭讀取磁帶上的同一C1碼并比較它們，例如通過采用可糾正的一個，降低誤糾正概率。即，沒有對提高了隨機誤差的糾正能力時的連續誤差的誤糾正概率的上升提出任何解決對策。結果，在專利文獻1、2中，存在不能降低對于這樣的連續誤差的誤糾正概率的問題。

本發明是為解決上述的技術問題而完成的，其目的是，對于隨機誤差即使選擇高糾正能力，對于超過檢測能力的長度的連續誤差的誤糾正的概率也不上升。

解決課題的手段

基于有關的目的，在本發明中，參照對于成對的兩個字節列的第一糾正的結果的兩者，根據該糾正的程度進行第二糾正。即，本發明的第一裝置，用于糾正包含第一方向的第一字節列和第二方向的第二字節列的積碼塊中的錯誤，其中包括：第一解碼器，糾正第一字節列中的偶數號的字節構成的第一部分列、和第一字節列中的奇數號的字節構成的第二部分列的各個部分列中的錯誤；以及第二解碼器，根據第一部分列中的糾正的第一程度和第二部分列中的糾正的第二程度的組合，糾正第二字節列。