[發(fā)明專利]X射線成像設(shè)備和方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680015123.6 | 申請日: | 2006-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN101170946A | 公開(公告)日: | 2008-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | T·普爾特 | 申請(專利權(quán))人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/12 | 分類號: | A61B6/12 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李亞非;譚祐祥 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射線 成像 設(shè)備 方法 | ||
1.一種X射線成像設(shè)備,該X射線成像設(shè)備包括:
成像單元,其包括X射線源(2)和X射線探測器(4),用于形成包括特有特征的對象(P)的一系列X射線圖像,
特征提取單元(6),用于從所述系列X射線圖像提取所述特有特征,以及
控制單元(7),其控制為形成所述系列的X射線圖像而對所述對象(P)進行輻照的X射線劑量,其是通過控制所述X射線源(2)使得第一批數(shù)量的圖像的每個X射線圖像的X射線劑量大于所述系列的其余數(shù)量的圖像來進行的。
2.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述第一批數(shù)量在1至20,尤其在2至5的范圍。
3.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述第一批數(shù)量占所述系列的總圖像數(shù)量的1%至10%的范圍,尤其為1%至2%的范圍。
4.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述特有特征為在所述對象(P)內(nèi)定位的醫(yī)療工具(11),尤其為支架(15)、導(dǎo)管(9)或?qū)Ыz(12)。
5.如權(quán)利要求4所述的X射線成像設(shè)備,其中所述醫(yī)療工具(11)具有可探測標(biāo)記(16、17、18)。
6.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述控制單元(7)適合于控制所述X射線劑量,使得所述X射線劑量保持在較高的水平直到通過所述特征提取單元(6)已經(jīng)提取到所述特有特征。
7.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述控制單元(7)適合于控制所述X射線劑量,使得對于所述第一批數(shù)量的圖像,每個圖像的X射線劑量被設(shè)定在高于正常水平20%至200%,尤其為50%至100%的范圍的高水平。
8.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述控制單元(7)適合于控制所述X射線劑量,使得對于所述其余數(shù)量的圖像,每個圖像的X射線劑量被設(shè)定為正常水平的10%至90%,尤其為20%至50%的范圍的低水平。
9.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述成像單元(2、4)適合于從固定投影方向形成一系列透視X射線圖像。
10.如權(quán)利要求1所述的X射線成像設(shè)備,其中所述特征提取單元(6)包括探測單元(61),其用于自動地探測所述特有特征,尤其是附著到所述特有特征的至少一個標(biāo)記;以及,計算單元(62),其用于從所述探測自動地得出所述特有特征的位置信息。
11.一種X射線成像方法,其包括以下步驟:
通過包括X射線源和X射線探測器的成像單元來形成包括特有特征的對象的一系列X射線圖像;
從所述系列X射線圖像提取所述特有特征;以及
通過控制所述X射線源使得第一批數(shù)量的圖像的每個X射線圖像的X射線劑量大于所述系列的其余數(shù)量的圖像從而控制為形成所述系列X射線圖像而對所述對象進行輻照的X射線劑量。
12.一種電腦程序,其包括程序代碼裝置,該程序代碼裝置用于當(dāng)所述電腦程序在電腦上運行時根據(jù)權(quán)利要求11中所主張的方法來控制如權(quán)利要求1所主張的X射線成像設(shè)備。
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