[發(fā)明專利]路徑規(guī)劃方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200680014059.X | 申請(qǐng)日: | 2006-04-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101166949A | 公開(公告)日: | 2008-04-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 伊恩·威廉·麥克萊恩;若弗雷·麥克法蘭;戴維·斯文·瓦利亞塞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分類號(hào): | G01B21/04 | 分類號(hào): | G01B21/04;G05B19/402 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 張煥生;謝麗娜 |
| 地址: | 英國(guó)格*** | 國(guó)省代碼: | 英國(guó);GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 路徑 規(guī)劃 方法 | ||
1.一種用于規(guī)劃設(shè)備軌跡的方法,所述設(shè)備安裝在座標(biāo)定位設(shè)備上,其中,可操作所述座標(biāo)定位設(shè)備用于產(chǎn)生所述設(shè)備與所述座標(biāo)定位設(shè)備的表面之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng),并且其中,該設(shè)備包括驅(qū)動(dòng)器,用于產(chǎn)生繞兩個(gè)或更多個(gè)軸線的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),所述方法包括如下步驟:
對(duì)于給定的軌跡,判斷所述設(shè)備繞該設(shè)備旋轉(zhuǎn)軸線的角速度或加速度是否將超過預(yù)定閾值;
并且如果超過,則調(diào)整參數(shù),使得所述設(shè)備繞所述旋轉(zhuǎn)軸線的角速度或加速度不超過所述預(yù)定閾值;
2.根據(jù)權(quán)利要求1方法,其中所述設(shè)備包括探頭。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的方法,其中在所述探頭上安裝表面檢測(cè)裝置。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任何一項(xiàng)的方法,其中所述調(diào)整參數(shù)的步驟包括選擇新的軌跡,使得所述設(shè)備繞所述旋轉(zhuǎn)軸線的旋轉(zhuǎn)速度或加速度低于所述閾值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的方法,其中所述新的軌跡是平行于先前軌跡的偏移。
6.根據(jù)權(quán)利要求4的方法,其中所述設(shè)備是探頭,該探頭安裝有表面檢測(cè)裝置,并且其中先前軌跡是待由所述表面檢測(cè)裝置測(cè)量的表面輪廓的標(biāo)稱中心線,并且所述新的軌跡是平行于所述中心線的偏移。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任何一項(xiàng)的方法,其中所述調(diào)整參數(shù)的步驟包括重新取向所述表面輪廓。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任何一項(xiàng)的方法,其中所述設(shè)備安裝有裝置,并且所述調(diào)整參數(shù)的步驟包括改變所述裝置的角速度。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任何一項(xiàng)的方法,其中所述設(shè)備包括探頭,該探頭安裝有探針,該探針具有測(cè)頭,其中所述調(diào)整掃描參數(shù)的步驟包括改變所述測(cè)頭的長(zhǎng)度。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-8中任何一項(xiàng)的方法,其中所述設(shè)備包括探頭,該探頭安裝有非接觸式探針,其中所述調(diào)整掃描參數(shù)的步驟包括改變所述非接觸式探針的偏移。
11.根據(jù)權(quán)利要求3的方法,其中所述探針通過將所述表面檢測(cè)裝置驅(qū)動(dòng)到表面輪廓上的標(biāo)稱要求的各位置點(diǎn)來(lái)移動(dòng)該表面檢測(cè)裝置,并且其中,選擇這些點(diǎn)之間的間隙,以使得所述探頭繞所述旋轉(zhuǎn)軸線的角速度或加速度不超過所述預(yù)定閾值。
12.一種用于規(guī)劃設(shè)備軌跡的裝備,所述設(shè)備安裝在座標(biāo)定位設(shè)備上,其中,可操作所述座標(biāo)定位設(shè)備用于產(chǎn)生所述設(shè)備與所述座標(biāo)定位設(shè)備的表面之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng),并且其中,該設(shè)備包括驅(qū)動(dòng)器,用于產(chǎn)生繞兩個(gè)或更多個(gè)軸線的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),所述裝備包括執(zhí)行以下步驟的計(jì)算裝置:
對(duì)于給定的軌跡,判斷該設(shè)備繞該設(shè)備旋轉(zhuǎn)軸線的角速度或加速度是否將超過預(yù)定閾值;
并且如果超過,則調(diào)整參數(shù),使得該設(shè)備繞所述旋轉(zhuǎn)軸線的角速度或加速度不超過所述預(yù)定閾值。
13.一種利用安裝在在座標(biāo)定位設(shè)備上的探頭上的表面檢測(cè)裝置來(lái)測(cè)量表面輪廓的方法,其中可操作所述座標(biāo)定位設(shè)備用于產(chǎn)生所述探頭和所述表面輪廓之間沿著軌跡的相對(duì)運(yùn)動(dòng),并且其中所述探頭包括驅(qū)動(dòng)器,用于產(chǎn)生該表面檢測(cè)裝置繞兩個(gè)或更多個(gè)軸線的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),使得可操作該驅(qū)動(dòng)器來(lái)相對(duì)于該表面輪廓的表面定位所述表面檢測(cè)裝置,以使得能夠圍繞該表面輪廓進(jìn)行測(cè)量,該方法包括如下步驟:
對(duì)于給定的軌跡,判斷所述探頭繞該探針旋轉(zhuǎn)軸線的角速度或加速度是否將超過預(yù)定閾值;
并且如果超過,則調(diào)整掃描參數(shù),使得所述探頭繞所述旋轉(zhuǎn)軸線的角速度或加速度不超過預(yù)定閾值。
14.一種利用安裝在座標(biāo)定位設(shè)備的探頭上的表面檢測(cè)裝置測(cè)量表面輪廓的方法,其中可操作所述座標(biāo)定位設(shè)備用于產(chǎn)生所述探頭和所述表面輪廓之間沿著軌跡的相對(duì)運(yùn)動(dòng),并且其中所述探頭包括驅(qū)動(dòng)器,用于產(chǎn)生所述表面檢測(cè)裝置繞兩個(gè)或更多個(gè)軸線的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),使得可操作該驅(qū)動(dòng)器來(lái)相對(duì)于該表面輪廓的表面定位所述表面檢測(cè)裝置,以使得能夠圍繞該表面輪廓進(jìn)行測(cè)量,該方法包括如下步驟:
對(duì)于給定的軌跡,判斷所述表面檢測(cè)裝置的縱軸線是否將變成平行于或基本平行于所述探頭的旋轉(zhuǎn)軸線;
并且如果是,則選擇新的軌跡,使得該表面檢測(cè)裝置的所述縱軸線將不變成平行于或基本平行于所述探頭的旋轉(zhuǎn)軸線。
15.根據(jù)權(quán)利要求14的方法,其中所述表面檢測(cè)裝置包括探針,所述探針具有探針末端,并且其中所述表面檢測(cè)裝置的所述縱軸線從所述探針末端延伸到該探頭的軸線,所述縱軸線垂直于該探頭的所述軸線。
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