[發明專利]檢測厚度和厚度變化的設備

有效

• 申請號: 200680012740.0
• 申請日: 2006-05-05
• 公開（公告）號: CN101180513A
• 公開（公告）日: 2008-05-14
• 發明（設計）人: R·施萊特;J·曼哈特
• 申請（專利權）人: BEB工業電子股份公司
• 主分類號: G01B7/06
• 分類號: G01B7/06;G07D7/16
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司
• 代理人: 周建秋;王鳳桐

1.一種設備，該設備用于測量平面物體(3)尤其是有價票據的厚度或者厚度變化，該設備包括：

至少一個第一導向元件(1)和多個第二導向元件(2)，在第一導向元件(1)和第二導向元件(2)之間輸送平面狀物體，

其中，所述第二導向元件(2)位于所述第一導向元件(1)的對面，并且所述多個第二導向元件(2)互相并排安置成一行，因此在所述導向元件(1，2)之間穿過的平面物體的厚度變化導致一個或者多個第二導向元件(2)相對于第一導向元件(1)發生偏移；

多個平面線圈(6，6a，6b)，其中為每個第二導向元件(2)配置一個平面線圈；以及

用于激勵平面線圈(6，6a，6b)來產生磁交變場的組件；

多個導電元件(7)，其中每個所述第二導向元件(2)直接或者間接地與該導電元件(7)剛性地連接在一起，并且所述第二導向元件(2)的偏移導致相應的導電元件(7)發生偏移；

運算電子器件(8)，用來檢測所述導電元件(7)對于所述平面線圈(6)的磁交變場的影響，其中所述平面線圈(6)制作成空心線圈。

2.如權利要求1所述的設備，其中所述導電元件(7)在交變場所在區域內沒有鐵磁性材料。

3.如權利要求1或2所述的設備，其中所述平面線圈(6，6a，6b)和該平面線圈(6，6a，6b)的運算電子器件(8)制作在同一導電板(9)上。

4.如權利要求1-3中任一項權利要求所述的設備，其中所述多個第一導向元件(1)互相并排安置，并且每個所述第一導向元件(1)與一個第二導向元件(2)構成元件對。

5.如權利要求1-4中任一項權利要求所述的設備，其中所述運算電子器件(8)包括復式單元，該復式單元與所述多個平面線圈(6，6a，6b)連接，連接的方式使得所述多個平面線圈產生的信號可以由唯一的探測器單元進行檢測。

6.如權利要求1-5中任一項權利要求所述的設備，其中所述運算電子器件(8)包括同步探測器SD。

7.如權利要求1-6中任一項權利要求所述的設備，其中所述平面線圈(6，6a，6b)的運算電子器件(8)具有產生周期性激勵信號的機構(11)，其中所述每個平面線圈和電容元件(13)構成LC振蕩電路的組成部分，并且產生周期性激勵信號的機構的構成或者程序設置使得所述激勵信號的頻率小于LC振蕩電路的共振頻率。

8.如權利要求1-7中任一項權利要求所述的設備，其中所述第二導向元件(2)安置于傳遞機構(5，35，55)上，并且其中導電元件安置于所述傳遞機構(5，35，55)上，該安置方式使得第二導向元件(2)發生偏移時，該偏移通過所述傳遞機構轉化成相應的導電元件(7)相對于所配置的平面線圈(6，6a，6b)的移動，其中，所述傳遞機構(5，35，55)的構造使得所述第二導向元件(2)發生的偏移轉化成相應的導電元件的移動，該移動是一個成比例放大的和/或改變方向的移動。

9.如權利要求1-8中任一項權利要求所述的設備，其中，所述導電元件(7)具有平面狀的表面，并且當一個或者多個所述第二導向元件發生偏移時，相應的導電元件平行于所述平面移動，該平面內加工制作有所述平面線圈(6，6a，6b)，其中所述平面線圈伸展于一個給定的表面上，并且該表面上被所述平面狀表面所遮蓋的部分根據所述第二導向元件的偏移而發生變化。

10.如權利要求1-9中任一項權利要求所述的設備，其中：

安置于同一個平面內的兩個平面線圈(6a，6b)配置有相應的導電元件；

運算電子器件，用以形成所述兩個平面線圈的各自信號的差動信號A-B；

其中，通過所述平面線圈確定的平面確定了第一方向z以及垂直于所述第一方向z的第二方向x，所述第一方向z基本上平行于所述第二導向元件的偏移，

所述平面線圈(6a)在第一方向z上的延伸作為所述第二方向x上位置的函數而單調遞增或者單調遞減，

另一個所述平面線圈(6b)在所述第一方向z上的延伸作為沿著所述第二方向x上的位置的函數，其變化曲線與所述平面線圈(6a)的變化趨勢相反。

11.如權利要求1-10中任一項權利要求所述的設備，其中加工制作有平面線圈(6，6a，6b)的平面，該平面與所配置的導電元件(7)之間的距離最大為7mm。