[發(fā)明專利]利用最大相干投影的高解析度彌散數(shù)據(jù)可視化無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200680007862.0 | 申請(qǐng)日: | 2006-03-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101384215A | 公開(公告)日: | 2009-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 范·J·韋登 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 通用醫(yī)療公司 |
| 主分類號(hào): | A61B5/05 | 分類號(hào): | A61B5/05 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 陳 煒 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 最大 相干 投影 解析度 彌散 數(shù)據(jù) 可視化 | ||
1.一種用于顯示彌散數(shù)據(jù)的設(shè)備,包括:
-用于獲取與所述彌散數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的方位密度函數(shù)的裝置;
-用于從與第一體素相關(guān)聯(lián)的方位密度函數(shù)中獲取一個(gè)第一方位矢量的裝置,其中,所述第一體素位于至少一個(gè)軌跡上;
-用于基于所述第一方位矢量來識(shí)別一個(gè)第二體素的裝置;
-用于從與所述第二體素相關(guān)聯(lián)的方位矢量集合中選擇一個(gè)第二方位矢量的裝置;
-用于基于所述第一、第二方位矢量之間的關(guān)系,確定是否沿著由所述第一、第二方位矢量所定義的路徑來建立一段軌跡的裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備還包括:
-用于當(dāng)確定所述第一、第二方位矢量的關(guān)系與繼續(xù)該軌跡不一致時(shí),結(jié)束該軌跡的裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備還包括:
-用于沿著由所述第一、第二方位矢量所定義的路徑來定義軌跡部分的裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其特征在于,所述設(shè)備還包括:
-用于選擇關(guān)系以包括確定所述第一、第二方位矢量的方向差異,以及定義一個(gè)方向差異的閾值的裝置,則當(dāng)所述差異超過所述閾值時(shí),終止該軌跡。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)備,其特征在于,所述用于選擇第二方位矢量的裝置還包括:
-用于從與所述第二體素相關(guān)聯(lián)的方位矢量集合中選擇一個(gè)最接近于與所述第一方位矢量平行的矢量的裝置。
6.一種用于顯示彌散數(shù)據(jù)的方法,其中,包括以下步驟:
-獲取與所述彌散數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的方位密度函數(shù);
-從與第一體素相關(guān)聯(lián)的方位密度函數(shù)中獲取一個(gè)第一方位矢量,其中,所述第一體素位于至少一個(gè)軌跡上;
-基于所述第一方位矢量來確定一個(gè)第二體素;
-從與所述第二體素相關(guān)聯(lián)的方位矢量集合中選擇一個(gè)第二方位矢量;
-基于所述第一、第二方位矢量之間的關(guān)系,確定是否沿著由所述第一、第二方位矢量所定義的路徑來建立一段軌跡。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,還包括步驟:
-當(dāng)確定所述第一、第二方位矢量的關(guān)系與繼續(xù)該軌跡不一致時(shí),結(jié)束該軌跡。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,還包括步驟:
-沿著由所述第一、第二方位矢量所定義的路徑來定義軌跡部分。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,還包括步驟:
-選擇關(guān)系以包括確定所述第一、第二方位矢量的方向差異,以及定義一個(gè)方向差異的閾值,則當(dāng)所述差異超過所述閾值時(shí),終止該軌跡。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述選擇第二方位矢量的步驟包括:
-從與所述第二體素相關(guān)聯(lián)的方位矢量集合中選擇一個(gè)最接近于與所述第一方位矢量平行的矢量。
11.一種磁共振成像系統(tǒng),包括:
-磁場(chǎng)源;
-探測(cè)子系統(tǒng),用于探測(cè)為響應(yīng)所述磁場(chǎng)源的運(yùn)行而產(chǎn)生的電磁輻射;
-控制器,用于控制所述磁場(chǎng)源和所述探測(cè)子系統(tǒng)的運(yùn)行;
-處理子系統(tǒng),用于基于所述探測(cè)子系統(tǒng)所提供的數(shù)據(jù)來生成彌散數(shù)據(jù),該處理子系統(tǒng)配置用于:
-獲取與所述彌散數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的方位密度函數(shù);
-從與第一體素相關(guān)聯(lián)的方位密度函數(shù)中獲取一個(gè)第一方位矢量,其中,所述第一體素位于至少一個(gè)軌跡上;
-基于所述第一方位矢量來確定一個(gè)第二體素;
-從與所述第二體素相關(guān)聯(lián)的方位矢量集合中選擇一個(gè)第二方位矢量;
-基于所述第一、第二方位矢量之間的關(guān)系,確定是否沿著由所述第一、第二方位矢量所定義的路徑來建立一段軌跡。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的系統(tǒng),其特征在于,所述處理子系統(tǒng)還配置用于:
-當(dāng)確定所述第一、第二方位矢量的關(guān)系與繼續(xù)該軌跡不一致時(shí),結(jié)束該軌跡。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的系統(tǒng),其特征在于,所述處理子系統(tǒng)還配置用于:
-沿著由所述第一、第二方位矢量所定義的路徑來定義軌跡部分。
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