[發明專利]用于檢測機械部件的位置和/或形狀的設備和方法

無效

• 申請號: 200680006504.8
• 申請日: 2006-03-13
• 公開（公告）號: CN101133298A
• 公開（公告）日: 2008-02-27
• 發明（設計）人: R·奇普里亞尼
• 申請（專利權）人: 馬波斯S.P.A.公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司
• 代理人: 周建秋;王鳳桐

1.用于檢測機械部件(40；50)的位置和/或形狀的光電設備，該設備包括：

底座(1)；

待測部件(40；50)的鎖定和參照系統(31)；

具有光電系統(53)的檢測裝置，所述光電系統(53)用于提供指示待測部件(40；50)的至少一些部分(51)的位置的信號；

轉動系統(26)，所述轉動系統(26)可以圍繞轉動縱軸使所述光電系統(53)與所述待測部件(40；50)之間進行轉動移動；和

處理單元(25)，所述處理單元(25)用于接收所述光電系統(53)的信號和提供關于所述待測部件(40；50)的位置和/或形狀的信息；

其特征在于，該設備還包括橫向平移系統(9)，所述橫向平移系統(9)定義了相對于所述轉動縱軸橫向的平移軸，并且可以沿著所述平移軸使所述光電系統(53)與所述待測部件(40；50)之間進行平移移動。

2.根據權利要求1所述的設備，用于檢測具有至少一個基本平的表面(51)的機械部件(40；50)，其中，所述光電系統(53)提供有關所述基本平的表面(51)的信號，所述橫向平移系統(9)用于沿著所述平移軸使所述光電系統(53)與所述基本平的表面(51)之間進行平移移動。

3.根據權利要求1或2所述的設備，其中，所述鎖定和參照系統(31)與所述底座(1)連接，所述光電系統(53)與所述轉動系統(26)連接。

4.根據以上權利要求中任意一項所述的設備，其中，所述光電系統(53)與所述橫向平移系統(9)連接。

5.根據以上權利要求中任意一項所述的設備，其中，所述轉動系統(26)包括轉動臺(13)，所述光電系統(53)與所述轉動臺(13)連接。

6.根據權利要求5所述的設備，其中，所述轉動臺(13)與所述橫向平移系統(9)連接。

7.根據權利要求5或6所述的設備，該設備包括與所述轉動臺(13)連接的支撐件(15)，所述光電系統(53)包括發射器(54)和接收器(55)，所述發射器(54)和接收器(55)與所述支撐件(15)的自由端連接。

8.根據權利要求7所述的設備，其中，所述光電系統(53)為投影型光電系統。

9.根據以上權利要求中任意一項所述的設備，其中，所述平移軸與所述轉動縱軸垂直。

10.根據以上權利要求中任意一項所述的設備，其中，所述轉動系統(26)和所述橫向平移系統(9)包括相關聯的驅動裝置(24、27)和相關聯的檢測裝置(29)，所述驅動裝置(24、27)和檢測裝置(29)與所述處理單元(25)連接。

11.根據以上權利要求中任意一項所述的設備，該設備包括縱向平移系統(3)，該縱向平移系統(3)定義了與所述平移軸垂直的縱軸，所述縱向平移系統(3)用于沿著所述縱軸使所述部件(40；50)與所述光電系統(53)之間進行相互平移移動。

12.根據權利要求11所述的設備，其中，所述縱向平移系統(3)包括相關聯的驅動和檢測裝置，該驅動和檢測裝置與所述處理單元(25)連接。

13.根據以上權利要求中任意一項所述的設備，該設備包括參照塊(59)，所述參照塊(59)與所述待測部件(40；50)的鎖定和參照系統(31)固定連接，所述參照塊(59)包括表面(58)，該表面(58)定義了所述光電系統(53)的參考平面(r)。