[發(fā)明專利]熱顯影記錄裝置以及熱顯影記錄方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680003056.6 | 申請日: | 2006-01-17 |
| 公開(公告)號: | CN101107564A | 公開(公告)日: | 2008-01-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 石本一 | 申請(專利權(quán))人: | 柯尼卡美能達醫(yī)療印刷器材株式會社 |
| 主分類號: | G03D13/00 | 分類號: | G03D13/00;G03C1/498 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 何騰云 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯影 記錄 裝置 以及 方法 | ||
1.一種熱顯影記錄裝置,其特征在于,包括:曝光手段,其對片狀熱顯影感光材料進行曝光,形成潛像;加熱手段,其對所述片狀熱顯影感光材料進行加熱,進行顯影;冷卻手段,其冷卻所述被加熱的片狀熱顯影感光材料;濃度修正手段,其通過與被向所述冷卻手段搬送的所述被加熱的片狀熱顯影感光材料接合,改變從所述熱顯影感光材料的吸熱量,控制所述熱顯影感光材料的最終濃度;控制手段,其控制所述濃度修正部。
2.權(quán)利要求1中記載的熱顯影記錄裝置,其特征在于,所述曝光手段和所述加熱手段同時作用于所述片狀熱顯影感光材料。
3.權(quán)利要求1中記載的熱顯影記錄裝置,其特征在于,所述濃度修正手段備有:與所述被加熱的片狀熱顯影感光材料接觸的導(dǎo)向部;設(shè)在所述導(dǎo)向部的與片狀熱顯影感光材料接觸面之相反側(cè)的面上的加熱部。
4.權(quán)利要求1中記載的熱顯影記錄裝置,其特征在于,所述冷卻手段備有徐冷部和冷卻部,其中,徐冷部是將所述被加熱的片狀熱顯影感光材料冷卻到顯影停止溫度;冷卻部是將所述片狀熱顯影感光材料的溫度冷卻到能夠接觸的溫度,將所述徐冷部配置在冷卻部的上流側(cè)。
5.權(quán)利要求3中記載的熱顯影記錄裝置,其特征在于,所述冷卻手段備有將所述被加熱的片狀熱顯影感光材料冷卻到顯影停止溫度的徐冷部,在所述徐冷部的所述片狀熱顯影感光材料的進入側(cè),設(shè)置所述加熱部,所述徐冷部可以兼所述濃度修正手段。
6.權(quán)利要求4中記載的熱顯影記錄裝置,其特征在于,備有溫度檢出部,其檢出所述徐冷部和所述曝光手段中至少一個之附近的溫度;所述控制手段根據(jù)所述溫度檢出部的檢出結(jié)果,控制所述濃度修正手段的加熱部。
7.權(quán)利要求4中記載的熱顯影記錄裝置,其特征在于,所述加熱手段對所述片狀熱顯影材料的加熱時間在10秒以下。
8.一種熱顯影記錄方法,其特征在于,包括:曝光步驟,其對片狀熱顯影感光材料進行曝光,形成潛像;加熱步驟,其對所述片狀熱顯影感光材料進行顯影;冷卻步驟,其冷卻所述被加熱的片狀熱顯影感光材料;濃度修正步驟,其通過改變從為了冷卻而被搬送過來的所述被加熱的片狀熱顯影感光材料的吸熱量,控制所述熱顯影感光材料的最終濃度,進行濃度修正。
9.權(quán)利要求8中記載的熱顯影記錄方法,其特征在于,對所述片狀熱顯影感光材料同時進行所述曝光步驟和所述加熱步驟。
10.權(quán)利要求8中記載的熱顯影記錄方法,其特征在于,所述冷卻步驟包括將所述被加熱片狀熱顯影感光材料冷卻到顯影停止溫度的徐冷步驟,在所述徐冷步驟之后,將所述片狀熱顯影感光材料降溫到接觸可能的溫度。
11.權(quán)利要求10中記載的熱顯影記錄方法,其特征在于,在所述徐冷步驟時,進行所述片狀熱顯影感光材料的濃度修正步驟。
12.權(quán)利要求8中記載的熱顯影記錄方法,其特征在于,在所述濃度修正步驟時,用導(dǎo)向部接觸所述被加熱的片狀熱顯影感光材料,用與所述片狀熱顯影感光材料接觸面的相反側(cè)的面,加熱所述導(dǎo)向部。
13.權(quán)利要求10中記載的熱顯影記錄方法,其特征在于,檢出與所述徐冷步驟和所述曝光步驟的至少一個相關(guān)的位置的溫度,根據(jù)所述溫度檢出結(jié)果,控制所述導(dǎo)向部的加熱。
14.權(quán)利要求8中記載的熱顯影記錄方法,其特征在于,形成所述潛像之后,對所述片狀熱顯影材料進行加熱的加熱時間在10秒以下。
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