[發明專利]用于選擇最佳寫入參數的方法和裝置以及供所述方法和裝置使用的光學記錄媒質

無效

• 申請號: 200680002548.3
• 申請日: 2006-01-16
• 公開（公告）號: CN101107653A
• 公開（公告）日: 2008-01-16
• 發明（設計）人: M·凱帕
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G11B7/125
• 分類號: G11B7/125
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 熊延峰;譚祐祥

技術領域

本發明涉及一種用于設定光學記錄裝置中使用的寫入參數最佳值的方法，該光學記錄裝置利用輻射光束在光學記錄媒質上寫入信息。本發明還涉及一種用于在光學記錄媒質上記錄信息的光學記錄裝置，該裝置包括輻射光源，用于發射具有可控的、用于在記錄媒質上記錄信息的寫入功率電平的值的輻射光束。此外，本發明涉及一種光學記錄媒質，通過利用輻射光束照射該記錄媒質來記錄信息，該記錄媒質包括包含表示將信息記錄到所述記錄媒質上的記錄過程的控制信息的區域。

在光學記錄裝置中，重要的是利用正確功率的輻射光束在光學記錄媒質上記錄信息，該輻射光束例如激光束。盡管媒質制造商能夠以絕對的方式給出所述的正確功率(例如預先記錄在光盤上)，但是對于每種記錄媒質和記錄裝置的組合而言，環境之間的差異以及裝置與裝置之間的差異，使得要想獲得可靠的光學記錄必須找到所討論的記錄媒質所依賴的正確功率。本領域公知的幾種用于此目的的優化功率控制(OPC)例程，例如伽馬OPC(通常用于可再寫入媒質，例如CR-RW和DVD+/-RW)、貝它OPC(通常用于可記錄媒質，例如CD-R和DVD+/-R)以及卡巴OPC(例如用于BD-RE/R媒質)。

背景技術

在WO02/41306中，描述了通過在光學記錄媒質上寫入一系列測試圖案，從而由這些圖案形成讀取信號并且處理該讀取信號來設定光學記錄裝置中輻射光束的最佳寫入功率的方法，該專利在本申請中引入作為參考并且視為本申請的一部分。這種處理包括針對由讀取信號獲得的參數擬合函數，優選是直線，而不必實施微分步驟。可以由該讀取信號獲得的一種這樣的參數是調制(M)。曲線擬合過程需要一個或多個功率值來定義實施擬合的時間間隔。如果該曲線擬合產生了寫入參數的第一值，該值出于某些原因不符合最佳寫入參數標準，例如在預設值范圍之外，WO02/41306公開了可以采取的多種可能的測量方法。其中一種是重復過程，其中將所述寫入參數的所述第一值用于定義實施擬合的第二時間間隔。隨后可以將所生成的第二寫入參數評價為最佳寫入參數，例如相對于預設范圍。如果該第二寫入參數不符合最佳寫入參數標準，則繼續重復，直到達到某個預設條件為止。

然而，光學記錄裝置與光學記錄媒質的某些組合固有的問題在于在獲得最佳寫入參數之前可能需要較大量的這種重復步驟。因此，就會延遲記錄過程，造成使用者不舒服。此外，在光學記錄裝置與光學記錄媒質的某些不好的組合中，重復也可能不會得到最佳寫入參數。對于這些情況而言，該光學記錄裝置將不能在記錄媒質上記錄，從而導致故障。

因此，經改進的光學記錄裝置是有利的，尤其是更有效和/或可靠的光學記錄裝置將更有利。

相應地，本發明優選尋求單獨地或者任意組合地減輕或消除上述缺點中的一個或多個。尤其是，可以看作本發明的目的是提供一種用于在光學媒質上進行光學記錄時獲得寫入參數最佳值來解決了上述現有技術問題的方法。由所述寫入參數最佳值可以獲得寫入功率電平(P)的最佳值(P_opt)。

發明內容

在本發明的第一個方面中，提供了一種用于設定光學記錄裝置中使用的寫入參數最佳值的方法，從而實現了上述目的和一些其它目的，該光學記錄裝置利用輻射光束在光學記錄媒質上寫入信息，所述方法包括以下步驟：

1)在記錄媒質上寫入一系列測試圖案，每個圖案以不同的輻射光束寫入功率電平(P)值寫入，

2)讀取圖案從而形成相應的讀取信號部分(18、19)，

3)由每個讀取信號部分獲得讀取參數值，

4)針對讀取參數和寫入功率電平(P)的相關值，曲線擬合定義讀取參數與寫入功率電平(P)之間關系的函數，該曲線擬合函數具有寫入功率電平(P)的初始值(P_ini)，

5)由該曲線擬合函數獲得特征性寫入功率電平(P_char)，并且估計該特征性寫入功率電平(P_char)是否符合寫入參數最佳值標準，如果該特征性寫入功率電平(P_char)不符合寫入參數最佳值的標準，則開始

6)通過重復過程來獲得一個或多個特征性寫入功率電平(P_char，n)，在重復過程中由以下等式給出隨后的寫入功率電平(P_ini，n)初始值

P_ini，n+1＝A?P_ini，n+(1-A)P_char，n，

其中A為常數，n為整數。