[發明專利]生化學檢查裝置及生化學檢查方法

無效

• 申請號: 200680001620.0
• 申請日: 2006-01-24
• 公開（公告）號: CN101111757A
• 公開（公告）日: 2008-01-23
• 發明（設計）人: 松尾祐一郎;芝崎尊己;才田有子
• 申請（專利權）人: 奧林巴斯株式會社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 陳建全

1.一種生化學檢查裝置，其是用于測定由生化學檢查用陣列發出的光以分析生化學反應的生化學檢查裝置，其具備：用于對生化學檢查用陣列照射激發光的照明機構、用于拍攝由生化學檢查用陣列發出的光圖像的拍攝機構、用于保存所拍攝的光圖像的記錄機構；其中，在拍攝機構中，一邊使曝光時間從第一參數所規定的初期值開始緩慢延長，一邊反復拍攝光圖像，當所拍攝的光圖像的總像素中的最大強度達到第二參數所規定的強度以上時，開始利用記錄機構來記錄光圖像，當在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度時，利用記錄機構進行的光圖像的記錄結束。

2.權利要求1所述的生化學檢查裝置，其中，記錄機構在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度之前，當曝光時間大于第四參數所規定的值時，在該時間點光圖像的記錄結束。

3.權利要求1所述的生化學檢查裝置，其中，記錄機構在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度之前，當所記錄的光圖像的張數大于第五參數所規定的值時，在該時間點光圖像的記錄結束。

4.權利要求1所述的生化學檢查裝置，其中，記錄機構在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度之前，當曝光時間大于第四參數所規定的值、或者所記錄的光圖像的張數大于第五參數所規定的值時，在該時間點光圖像的記錄結束。

5.權利要求1所述的生化學檢查裝置，其中，拍攝機構以規定比例延長曝光時間。

6.權利要求1～4任一項所述的生化學檢查裝置，其中，該裝置還進一步具備用于使用者至少能夠任意地設定第一參數至第五參數中的任一個參數的輸入機構。

7.權利要求1～4任一項所述的生化學檢查裝置，其中，該裝置還進一步具備校正機構，該校正機構對于所保存的圖像通過由照明強度不均分布求出的校正系數對每次曝光時間的所有探針陣列要素的發光強度進行校正。

8.權利要求1～4任一項所述的生化學檢查裝置，其中，該裝置還進一步具備用于從記錄在記錄機構中的多個光圖像中形成一張混合圖像的圖像形成機構，該圖像形成機構將保存在記錄機構中的多個光圖像分割為每個探針陣列要素，對于每個探針陣列要素選擇適宜的強度值的分割圖像，并將所選擇的所有分割圖像的強度值換算為同一曝光時間，對換算后的所有探針陣列要素的分割圖像進行合成，從而形成一張混合圖像。

9.權利要求1～4任一項所述的生化學檢查裝置，其中，拍攝機構具有拍攝元件，且拍攝元件為CCD照相機。

10.一種生化學檢查方法，其為用于測定由生化學檢查用陣列發出的光以分析生化學反應的生化學檢查方法，其中，對生化學檢查用陣列照射激發光；一邊使曝光時間從第一參數所規定的初期值開始緩慢延長，一邊反復拍攝對應于激發光的照射而從生化學檢查用陣列發出的光圖像；在反復拍攝期間，當所拍攝的光圖像的總像素中的最大強度達到第二參數所規定的強度以上時，開始記錄光圖像，當在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度時，結束光圖像的記錄。

11.權利要求10所述的生化學檢查方法，其中，在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度之前，當曝光時間大于第四參數所規定的值時，在該時間點結束光圖像的記錄。

12.權利要求10所述的生化學檢查方法，其中，在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度之前，當所記錄的光圖像的張數大于第五參數所規定的值時，在該時間點結束光圖像的記錄。

13.權利要求10所述的生化學檢查方法，其中，在比所拍攝的光圖像整個區域小的區域內的像素中的最小強度達到大于第三參數所規定的強度之前，當曝光時間大于第四參數所規定的值、或者所記錄的光圖像的張數大于第五參數所規定的值時，在該時間點結束光圖像的記錄。

14.權利要求10所述的生化學檢查方法，其中，以規定比例延長曝光時間。