[實(shí)用新型]鐵電存儲器用鐵電薄膜電容無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200620157557.7 | 申請日: | 2006-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN200976351Y | 公開(公告)日: | 2007-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于軍;王耘波;彭剛;周文利;高俊雄 | 申請(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號: | H01L27/115 | 分類號: | H01L27/115 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 | 代理人: | 朱仁玲 |
| 地址: | 430074湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲 器用 薄膜 電容 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種鐵電薄膜電容及其制備方法。
背景技術(shù)
鐵電隨機(jī)存儲器(FeRAM)與傳統(tǒng)的半導(dǎo)體存儲器相比有許多突出的優(yōu)點(diǎn),具有廣闊的應(yīng)用前景和巨大的經(jīng)濟(jì)效益。具有金屬Pt/鐵電薄膜/金屬Pt(MFM)結(jié)構(gòu)的PZT鐵電電容作為FeRAM的主要存儲介質(zhì)具有較大的疲勞速率和較差的漏電流特性,并且直接在金屬Pt上制備的鐵電薄膜結(jié)晶性能較差,影響到材料的性能。如果直接采用氧化物電極不僅制備困難,在上面制備的鐵電薄膜,一般漏電流較大。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,提供一種鐵電存儲器用鐵電薄膜電容,本實(shí)用新型鐵電薄膜電容疲勞速率小,漏電流較小。
為實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是,一種鐵電存儲器用鐵電薄膜電容,依次由硅基底、二氧化硅阻擋層、二氧化鈦粘結(jié)層、下電極金屬層、下緩沖層、鐵電薄膜層、上緩沖層、上電極金屬層組成;二氧化鈦粘結(jié)層的厚度為10~30nm;下電極金屬層的厚度為100nm~200nm;下緩沖層的厚度為5~20nm;鐵電薄膜層的厚度為200nm~500nm;上緩沖層的厚度為100nm~200nm;上電極金屬層的厚度為80nm~150nm;下緩沖層、上緩沖層的材料為LSMO超大磁電阻材料,鐵電薄膜層的材料為摻Ta的PZT。
所述鐵電薄膜層的厚度為300nm~400nm。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)是:
(1)本實(shí)用新型PZT鐵電薄膜電容結(jié)晶性能良好、表面致密均勻、剩余極化大、矯頑場小,且具有較好的疲勞特性。
(2)所需襯底溫度較低;與集成工藝的兼容性好;制得的薄膜不需要或者只需要較低溫度的熱處理就具有鐵電性。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型鐵電薄膜電容一種實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
由圖1所示,本實(shí)用新型一種鐵電存儲器用鐵電薄膜電容,依次由硅基底1、二氧化硅阻擋層2、二氧化鈦粘結(jié)層3、下電極金屬層4、下緩沖層5、鐵電薄膜層6、上緩沖層7、上電極金屬層8組成;二氧化鈦粘結(jié)層3的厚度為10~30nm;下電極金屬層4的厚度為100nm~200nm,下電極金屬層4通常為鉑Pt;下緩沖層5的厚度為5~20nm;鐵電薄膜層6的厚度為200nm~500nm;上緩沖層7的厚度為100nm~200nm;上電極金屬層8的厚度為80nm~150nm,上電極金屬層8可為鉑或鋁;下緩沖層5、上緩沖層7的材料為LSMO超大磁電阻材料;鐵電薄膜層6的材料為摻Ta的PZT。
本實(shí)用新型鐵電存儲器用鐵電薄膜電容制備方法舉例:
本實(shí)用新型鐵電存儲器用鐵電薄膜電容的一種制備方法,包括
①將硅基底1按標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝進(jìn)行表面處理和清洗;
②采用熱氧化法,在硅基底1表面生成150nm厚的二氧化硅阻擋層2;
③采用磁控濺射法在二氧化硅阻擋層2上制備20nm厚的二氧化鈦粘結(jié)層3,其磁控濺射的工藝條件為:濺射氣壓1.5Pa,濺射基片溫度200℃,濺射氣氛為O2∶Ar=1∶9;
④采用磁控濺射法在二氧化鈦粘結(jié)層3上制備150nm厚的下電極金屬層Pt4,其磁控濺射的工藝條件為:濺射氣壓1Pa,濺射基片溫度200℃,濺射氣氛為Ar氣;
⑤采用標(biāo)準(zhǔn)固相反應(yīng)法制備LSMO靶材,LSMO超大磁電阻材料可為名義化學(xué)式(La2/3Sr1/3)MnO3,選用如下制備工藝:按化學(xué)計(jì)量比1/3∶1/3∶1稱取高純La2O3,SrCO3,MnCO3粉末,混合均勻后球磨10小時(shí),在1100℃預(yù)燒8小時(shí),球磨10小時(shí),在20MP的壓力下壓制成靶,最后在1400℃燒結(jié)12小時(shí)成型;
⑥采用磁控濺射法在下電極金屬層Pt4上制備15nm厚的下緩沖層5,磁控濺射的工藝條件為:濺射氣壓2Pa,濺射基片溫度為600℃,濺射氣氛為O2∶Ar=1∶1,磁控濺射使用的LSMO靶材為上述⑤制備;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





