[實用新型]PCB板測試儀的測試電路改良

無效

• 申請號: 200620154125.0
• 申請日: 2006-12-04
• 公開（公告）號: CN201014993Y
• 公開（公告）日: 2008-01-30
• 發明（設計）人: 楊世光
• 申請（專利權）人: 楊世光
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R27/02;G01R27/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及一種測量儀器，更具體的說，為PCB板儀器的測試電路改良。

背景技術

現在的測試儀器測試元件電阻，一般采用電流電壓法測試原理，即采用將電流表或電壓表的測試探頭直接接觸在被測元件的兩端，電流表或電壓表提供恒定的電壓或電流，通過測試回路的電流或電壓，達到測試元件的電阻的目的。

這種結構的測量儀器，當測量電阻值較大時，其測量精度可以保證，但測量較小的電阻元件時，由于測量儀器的測試探頭線本身有一定的內阻，與待測電阻相差較小時，測量值就會產生較大誤差，無法保證測量的精度。現在的市場測試儀器還沒有很好的克服這一技術難題。

對于PCB板測試，待測的元件內阻一般相差較大，有時可能需要測量內阻上百兆歐姆的元件，有時可能需要測量一個幾毫歐姆的元件，另外，PCB板的測試點數多，元件的精度高，這無疑對PCB板的儀器產生更高的要求。

發明內容

本實用新型的針對現有技術不足，提供一種測量精度高，測量的點數多的PCB板儀器的測試電路改良。

本實用新型提供的PCB板測試儀的測試電路改良，測試電路設有恒流源或恒壓源，測試電路連接有定值電阻，定值電阻連接運算放大器一，運算放大器一的輸出端連接數模轉化模塊，測試電路的兩個測量端子連接高阻抗運算放大器二，測試電路中還設有電子開關。

所述的定值電阻有多個，他們并聯在測試電路中，每個定值電阻都串聯有一個開關。

所述的測試電路的恒流源或恒壓源直接連接兩個PNP三極管Q1、Q3的發射極，PNP三極管的基極Q1、Q3串聯信號源SC，PNP三極管Q1、Q3集電極分別連接測量端子P1、P2，測量端子P1、P2分別與兩個NPN三極管Q2、Q4的集電極相連，NPN三極管Q2、Q4的基極與控制源SK連接，此NPN三極管Q2、Q4發射極同時定值電阻。

本實用新型有益效果在于：本實用新型通過運算放大器二直接與測量端子相連接，由于運算放大器二為高阻抗的元件，這相當于將測試探頭線本身的內阻變為零，有效提高測量的精確程度，本實用新型還提供了恒壓源和恒流源兩種測量電壓，使測量范圍較大程度的擴大。

附圖說明：

圖1為本實用新型的電路原理圖

具體實施方式：

以下僅為本實用新型較佳實施例，并不以此來限定本實用新型的保護范圍。

見圖1所示，本實用新型采用的PCB板測試儀的測試電路改良，測試電路提供恒流源或恒壓源，恒流源或恒壓源直接連接兩個PNP三極管Q1、Q3的發射極，此PNP三極管基極Q1、Q3串聯信號源SC連接，此PNP三極管Q1、Q3集電極分別連接測量端子P1、P2，測量觸點P1、P2分別與兩個NPN三極管Q2、Q4的集電極相連，此NPN三極管Q2、Q4的基極與控制源SK連接，此NPN三極管Q2、Q4發射極同時串聯定值電阻到信號地，定值電阻有多個，其阻值各不相同，他們并聯在測試電路中，每個定值電阻都串聯有一個開關，本實施例提供三個電阻R1、R2和R3，分別串聯開關K1、K2和K3，其應用與不同測量值的電路中。定值電阻連接運算放大器一的輸入端，運算放大器的輸出端連接數模轉化模塊，測試電路的兩個測量端子P1、P2還連接高阻抗運算放大器二，在測量端子P1、P2和高阻抗運算放大器二的兩個端子之間設有電子開關K1、K2、K3、K4、K5、K6，以控制端子是否連通高阻抗運算放大器二。

本電路為PCB板測試儀器的兩個量測端子的測試電路，實際的PCB板測試儀器設置多個測試卡，每個測試卡集成了256測試端子。

本實用新型的工作原理如下：

1.當測量端子P1、P2連接待測電阻R_X的電阻值比較小時(0.005-30歐姆)，測試電路連接恒流源，即電流值大小恒定，并已知電流值，三極管開關通路Q1與Q4開通，電流從Q1流過R_X，經過Q4、K7和定值電阻R1通入恒流源負端。此時開關K1、K2、K4、K6、K7閉合，運算放大器二與待測電阻R_X兩端直接相連通，可直接測出待測電阻R_X兩端電壓，且運算放大器二本身為高阻抗元件，直接測量端子P1、P2連接，相當于將測試探頭線本身的內阻變為零，運算放大器二將經過測得的結果直接輸入A/D數模轉換，通過顯示器直接顯示測得的結果。