[實(shí)用新型]一種極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)試裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200620149569.5 | 申請(qǐng)日: | 2006-12-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201078747Y | 公開(公告)日: | 2008-06-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鞏巖 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01M11/00 | 分類號(hào): | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春菁華專利商標(biāo)代理事務(wù)所 | 代理人: | 南小平 |
| 地址: | 130031吉*** | 國(guó)省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紫外 成像 光學(xué)儀器 質(zhì)量 測(cè)試 裝置 | ||
1.一種用于6nm-100nm波段的極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)試裝置,光源(1)產(chǎn)生的平行光通過鑒別率板(2)后經(jīng)反射鏡(3)和(4),最后經(jīng)過待檢成像系統(tǒng)(5)在探測(cè)器(6)上成像,其特征是:所述鑒別率板(2)是精密刻畫的金屬柵網(wǎng)(7)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于6nm-100nm波段的極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)試裝置,其特征是:所述光源(1)為激光等離子體極紫外光源。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種用于6nm-100nm波段的極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)試裝置,其特征是:所述網(wǎng)柵網(wǎng)格精度2-25μm。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于6nm-100nm波段的極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)試裝置,其特征是:所述網(wǎng)柵用金屬鎳制成。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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