[實用新型]兼顧取向和非取向晶體分析的XRD樣品臺裝置無效
| 申請號： | 200620079376.7 | 申請日： | 2006-07-13 |
| 公開（公告）號： | CN2916626Y | 公開（公告）日： | 2007-06-27 |
| 發明（設計）人： | 郭振琪 | 申請（專利權）人： | 郭振琪 |
| 主分類號： | G01N23/207 | 分類號： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責任公司 | 代理人： | 劉國智 |
| 地址： | 710069陜西省西安市碑*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 兼顧 取向 晶體 分析 xrd 樣品 裝置 | ||
【說明書】：
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