[實(shí)用新型]利用背散射技術(shù)進(jìn)行安全檢測(cè)的裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200620038807.5 | 申請(qǐng)日： | 2006-01-10 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN2872353Y | 公開(kāi)（公告）日： | 2007-02-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王滿(mǎn)倉(cāng) | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 上海英邁吉東影圖像設(shè)備有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01N23/203 | 分類(lèi)號(hào)： | G01N23/203;H05G1/02 |
| 代理公司： | 上海新天專(zhuān)利代理有限公司 | 代理人： | 張靜潔 |
| 地址： | 201206上海市川*** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 利用 散射 技術(shù) 進(jìn)行 安全 檢測(cè) 裝置 | ||
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料，例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射，例如，用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu)；利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
- 防止技術(shù)開(kāi)啟的鎖具新技術(shù)
- 技術(shù)評(píng)價(jià)裝置、技術(shù)評(píng)價(jià)程序、技術(shù)評(píng)價(jià)方法
- 防止技術(shù)開(kāi)啟的鎖具新技術(shù)
- 視聽(tīng)模擬技術(shù)(VAS技術(shù))
- 用于技術(shù)縮放的MRAM集成技術(shù)
- 用于監(jiān)測(cè)技術(shù)設(shè)備的方法和用戶(hù)接口、以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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