[發(fā)明專利]參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200610169423.1
• 申請(qǐng)日: 2006-12-14
• 公開（公告）號(hào): CN101201780A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林大華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 程偉;王錦陽

1.一種參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，應(yīng)用于具有基板管理控制器、參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元以及緩存單元的計(jì)算機(jī)裝置，該數(shù)據(jù)參數(shù)測試方法包括以下步驟：

(1)令該基板管理控制器將儲(chǔ)存于該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)讀出，且將該參數(shù)數(shù)據(jù)傳送至該緩存單元儲(chǔ)存；

(2)令該基板管理控制器清除該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)；

(3)令該基板管理控制器自該緩存單元讀出該參數(shù)數(shù)據(jù)，并將該參數(shù)數(shù)據(jù)重新寫入該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元；以及

(4)令該基板管理控制器對(duì)比該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元與該緩存單元內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)是否一致。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，該方法還包括輸入循環(huán)數(shù)值，若該計(jì)算機(jī)裝置執(zhí)行該步驟(1)至步驟(4)的次數(shù)未達(dá)該循環(huán)數(shù)值，則重還執(zhí)行該步驟(1)至步驟(4)；若執(zhí)行該步驟(1)至步驟(4)的次數(shù)已達(dá)該循環(huán)數(shù)值則結(jié)束該參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，其中，該緩存單元所提供的儲(chǔ)存空間至少等于可用于儲(chǔ)存該參數(shù)數(shù)據(jù)的大小。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，其中，該緩存單元所提供的儲(chǔ)存空間等于該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元所提供的儲(chǔ)存空間。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，其中，該緩存單元所提供的儲(chǔ)存空間大于該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元所提供的儲(chǔ)存空間。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，其中，在該步驟(2)中，該清除方式是以電性抹除或填00h、FFh方式清除該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，其中，在該步驟(4)中，對(duì)比該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元與該緩存單元的參數(shù)數(shù)據(jù)的長度大小及內(nèi)容是否一致。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，該方法還包括將對(duì)比后的數(shù)據(jù)信息記錄并輸出。

9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的參數(shù)數(shù)據(jù)測試方法，其中，在執(zhí)行該步驟(1)至步驟(4)的次數(shù)已達(dá)該循環(huán)數(shù)值時(shí)，輸出對(duì)比后數(shù)據(jù)信息，而該數(shù)據(jù)信息是指該參數(shù)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存單元與該緩存單元內(nèi)的參數(shù)數(shù)據(jù)對(duì)比一致及對(duì)比不一致的比值。