[發(fā)明專利]靜電潛像載體、靜電潛像顯影劑以及成像裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610168981.6
• 申請日: 2006-12-18
• 公開（公告）號: CN101055438A
• 公開（公告）日: 2007-10-17
• 發(fā)明（設計）人: 吉原宏太郎;高木正博;井上敏司;鶴見洋介;井口萌木
• 申請（專利權）人: 富士施樂株式會社
• 主分類號: G03G9/10
• 分類號: G03G9/10;G03G9/107;G03G15/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 王英

1.一種靜電潛像載體，包括核心顆粒以及涂敷核心顆粒表面的樹脂涂敷層，其中

核心顆粒的表面粗糙度顯示出滿足表達式Sm≤2.0μm的與JISB0601相符的表面粗糙度Sm和滿足表達式Ra≥0.1μm的與JIS?B0601相符的表面粗糙度Ra，

靜電潛像載體的與JIS?B0601相符的表面粗糙度Ra滿足表達式Ra≤0.5μm，靜電潛像載體的球度為0.975或更高。

2.根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體，其中

在靜電潛像載體表面處的核心暴露比率為2％或更低。

3.根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體，其中

所述載體的核心由下式表示：

(MO)x(Fe₂O₃)Y

其中，M包括選自由Cu、Zn、Fe、Mg、Mn、Ca、Li、Ti、Ni、Sn、Sr、Al、Ba、Co和Mo構成的組的一種或多種金屬；且X和Y表示摩爾比，其中X+Y＝1.00。

4.根據(jù)權利要求3的靜電潛像載體，其中M包括選自由Li、Mg、Ca、Mn、Sr、和Sn構成的組的一種或多種金屬，且任意其它M成分的組合量不高于1％重量。

5.根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體，其中當使用VSM(振動樣品磁強檢測法)測量裝置并使用BH示蹤法，在1kOe磁場內測量核心顆粒的磁化率σ時，獲得的磁化值σ1000在45到90Am²/kg(emu/g)的范圍內。

6.根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體，其中核心顆粒的平均顆粒尺寸在10到100μm的范圍內。

7.根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體，其中在5000V/cm的測量電場下所述載體的電阻在1×10⁵到1×10¹⁴Ω-cm的范圍內。

8.根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體，其中，當在10⁴V/cm的電場下以磁刷的形式測量時，所述載體的動態(tài)電阻在1×10³到1×10¹³Ω-cm的范圍內。

9.根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體，其中樹脂涂敷層的厚度在0.1至5μm的范圍內。

10.一種靜電潛像顯影劑，包括調色劑和載體，其中

載體是根據(jù)權利要求1的靜電潛像載體。

11.根據(jù)權利要求10的靜電潛像顯影劑，其中調色劑的體積平均顆粒尺寸在3到9μm的范圍內。

12.根據(jù)權利要求10的靜電潛像顯影劑，其中調色劑的形狀因數(shù)SF1的平均值是100或更大，但是不高于135。

13.根據(jù)權利要求10的靜電潛像顯影劑，其中調色劑的著色劑的體積平均顆粒尺寸在0.01到0.1μm的范圍內。

14.根據(jù)權利要求10的靜電潛像顯影劑，其中調色劑的比例在整個顯影劑的1％到15％重量的范圍內。