[發(fā)明專利]用于同時(shí)檢測離子材料的大小和濃度的方法和設(shè)備無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610168612.7 | 申請(qǐng)日： | 2006-12-20 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN101046462A | 公開（公告）日： | 2007-10-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 李圭祥;柳圭泰;沈儲(chǔ)暎;鄭洹錫;趙蓮子 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 三星電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G01N27/414 | 分類號(hào)： | G01N27/414;G06F17/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人： | 張波 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 同時(shí) 檢測 離子 材料 大小 濃度 方法 設(shè)備 | ||
【權(quán)利要求書】：
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