[發(fā)明專利]半導(dǎo)體設(shè)備、半導(dǎo)體存儲(chǔ)設(shè)備、控制信號(hào)產(chǎn)生方法和替換方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610168566.0 | 申請(qǐng)日： | 2006-12-21 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1988045A | 公開（公告）日： | 2007-06-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 森健次;田古里真行 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 恩益禧電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G11C29/24 | 分類號(hào)： | G11C29/24;G11C29/44;G11C17/18 |
| 代理公司： | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 孫志湧;陸錦華 |
| 地址： | 日本*** | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 半導(dǎo)體設(shè)備 半導(dǎo)體 存儲(chǔ) 設(shè)備 控制 信號(hào) 產(chǎn)生 方法 替換 | ||
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G11 信息存儲(chǔ)
G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn)；備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位，例如，損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù)；存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置，例如，可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置，例如，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn)；備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位，例如，損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
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G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置，例如，可測(cè)試性設(shè)計(jì)
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