[發明專利]電容式輸入裝置的測試系統

無效

• 申請號: 200610167804.6
• 申請日: 2006-12-14
• 公開（公告）號: CN101201777A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: 黃仲文;趙順賢
• 申請（專利權）人: 英業達股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G01R31/327
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司
• 代理人: 梁揮;祁建國

技術領域

本發明涉及一種開關測試裝置，特別是關于一種電容式輸入裝置的測試系統。

背景技術

鍵盤是最常用也是最主要的輸入設備，通過鍵盤，可以將英文字母、數字、標點符號等輸入到計算機中，從而向計算機發出命令、輸入數據等。

常規的鍵盤有機械式按鍵和電容式按鍵兩種。機械式鍵盤是最早被采用的結構，一般類似金屬接觸式開關的原理使觸點導通或斷開，大部分廉價的機械鍵盤采用銅片彈簧作為彈性材料，銅片易折，易失去彈性，使用時間一長則故障率升高，現在已基本被淘汰，取而代之的是電容式鍵盤。

電容式鍵盤基于電容式開關的鍵盤，原理是透過按鍵改變電極間的距離產生電容量的變化，暫時形成允許振蕩脈沖通過的條件。理論上這種開關是無觸點非接觸式的，磨損率極小甚至可以忽略不計，也沒有接觸不良的問題，具有噪音小，容易控制手感，可以制造出高質量的鍵盤，但制作過程較機械結構復雜。

由于電容式鍵盤具有上述的優點，且可減少厚度、增加質感，因此有漸漸取代傳統鍵盤的趨勢。以筆記型計算機而言，多半設計有一些周邊輸入的按鍵，例如控制多媒體播放的操作按鍵，這些按鍵若以電容式鍵盤，可提高筆記型計算機整體的質感。

而為了生產的方便，可將上述按鍵以模塊化的方式生產，然而問題是，模塊化的方式雖然生產組裝方便，但是在測試上卻不甚方便。由于該裝置為計算機的一周邊，因此在測試時必須要設計類似計算機的治具或是以計算機輔助方能測試，如此不僅增加測試成本，也增加測試上的困難度。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種電容式輸入裝置的測試裝置，以解決現有技術中電容式鍵盤采用模塊化的方式生產所導致的測試困難，測試成本高的問題。

為實現上述目的，本發明提出了一種電容式輸入裝置的測試系統，用以測試一電容式輸入裝置，該輸入裝置至少具有一個以上的電容式開關以及一控制模塊，該控制模塊接收該電容式開關的一開關信號，其中，該測試裝置包括有：

一單芯片，用以接收該控制模塊輸出的一控制信號，并響應該控制信號以輸出一測試信號；

一顯示模塊，由該單芯片控制以響應該測試信號而顯示相應于該測試信號的一測試信息；以及

一內存，由該單芯片控制以儲存相應于該測試信號的該測試信息。

上述的電容式輸入裝置的測試系統，其中，更包括有一總線，用以連接該控制模塊與該單芯片。

上述的電容式輸入裝置的測試系統，其中，該總線為一內部集成電路總線。

上述的電容式輸入裝置的測試系統，其中，該輸入裝置更包括有一指示模塊，由該控制模塊控制以顯示相應于該電容式開關的開關狀態。

上述的電容式輸入裝置的測試系統，其中，該顯示模塊由一個以上的發光二極管組成。

本發明所提供的測試裝置，可以快速測試待測物，操作簡易，并可簡化測試設備，省測試成本，無需使用計算機做為測試主機，可省下在測試開始時的計算機開機時間。

以上的關于本發明內容的說明及以下的實施方式的說明用以示范與解釋本發明的精神與原理，并且提供本發明的權利要求更進一步的解釋。

附圖說明

圖1為本發明所提供的電容開關測試裝置的系統方塊圖；

圖2為具有電容開關的一應用實施例示意圖。

其中，附圖標記：

100????輸入裝置????110????電容式開關

120????控制模塊????130?????指示模塊

110a???第一傳感器??110b????第二傳感器

110c???第三傳感器??110d????第四傳感器

140????總線????????210?????單芯片

220????顯示模塊????230?????內存

111a???第一輸入區??111b????第二輸入區

111c???第三輸入區

具體實施方式

參考圖1，為本發明所提供的電容式輸入裝置的測試系統的系統方塊圖。圖中所示的電容開關用以測試一輸入裝置100，輸入裝置100至少具有一個以上的電容式開關110以及一控制模塊120。控制模塊120用以監視電容式開關110的狀態，并接收相應于電容式開關110的開關狀態的一開關信號。輸入裝置100更可包括有一指示模塊130，由控制模塊120控制以顯示相應于電容式開關110的開關狀態。