[發(fā)明專利]設(shè)有光提取點(diǎn)狀物陣列的發(fā)光二極管及其制造過(guò)程無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610165917.2 | 申請(qǐng)日: | 2006-12-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101097975A | 公開(公告)日: | 2008-01-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 綦振瀛;李家銘;張瑞正;陳宗良;陳世玲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 泰谷光電科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/00 | 分類號(hào): | H01L33/00 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 林錦輝 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 有光 提取 點(diǎn)狀物 陣列 發(fā)光二極管 及其 制造 過(guò)程 | ||
1、一種發(fā)光二極管,其包括:
多層結(jié)構(gòu),其包括堆疊在襯底表面上的多個(gè)氮化物半導(dǎo)體層,其中,所述多層結(jié)構(gòu)包括發(fā)光層;
多個(gè)電極,其用于提供流經(jīng)所述多層結(jié)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)電流;以及
光學(xué)層,其被整合至所述多層結(jié)構(gòu),其中,所述光學(xué)層形成以陣列排列的基本上等距離的多個(gè)光提取點(diǎn)狀物。
2、如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管,其中,所述多個(gè)光提取點(diǎn)狀物具有小于約800的厚度。
3、如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管,其中,所述光學(xué)層由包括SiOx、SixNy、SiC、SiOxNy、ZnSe、TiO2或Ta2O5等材料所組成的化合物,其中x與y為化學(xué)元素比率。
4、如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管,其中,在所述多層結(jié)構(gòu)的兩個(gè)材料層之間的界面配置有所述光提取點(diǎn)狀物的陣列。
5、如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管,其中,所述光提取點(diǎn)狀物的陣列包括以并置的六邊形圖案分布所述光提取點(diǎn)狀物。
6、如權(quán)利要求5所述的發(fā)光二極管,其中,所述多個(gè)光提取點(diǎn)狀物設(shè)置于每一個(gè)六邊形圖案的角落與中間。
7、如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管,其中,所述光提取節(jié)點(diǎn)具有六邊形的形狀。
8、如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管,其中,所述發(fā)光二極管的光強(qiáng)度大于約150mcd。
9、一種形成發(fā)光二極管的制造過(guò)程,其包括:
形成包括至少一個(gè)發(fā)光層的多層結(jié)構(gòu);
形成用以提供流經(jīng)所述多層結(jié)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)電流的電極;以及
形成整合至所述多層結(jié)構(gòu)的光學(xué)層,其中所述光學(xué)層包括以陣列排列的基本上等距離的多個(gè)光提取點(diǎn)狀物。
10、如權(quán)利要求9所述的制造過(guò)程,其中,所述多個(gè)光提取點(diǎn)狀物具有小于約800的厚度。
11、如權(quán)利要求9所述的制造過(guò)程,其中,在形成整合至所述多層結(jié)構(gòu)的光學(xué)層的步驟中,包括在多層結(jié)構(gòu)中的兩層之間的界面形成所述光學(xué)層。
12、如權(quán)利要求11所述的制造過(guò)程,其中,形成整合至所述多層結(jié)構(gòu)的光學(xué)層的步驟包括:
在襯底的表面上形成光學(xué)層;
圖案化所述光學(xué)層,以形成基本上等距離的光提取點(diǎn)狀物的陣列;以及
在所述光學(xué)層上堆疊包括所述發(fā)光層的多層材料層。
13、如權(quán)利要求12所述的制造過(guò)程,其中,在所述光學(xué)層上堆疊包括所述發(fā)光層的多層材料層的步驟中,包括:
形成覆蓋所述光學(xué)層的緩沖層;以及
在所述緩沖層上形成多個(gè)氮化物半導(dǎo)體層。
14、如權(quán)利要求12所述的制造過(guò)程,其中,圖案化所述光學(xué)層以形成基本上等距離的光提取點(diǎn)狀物的陣列的步驟中,包括執(zhí)行光刻過(guò)程以形成光阻圖案,再經(jīng)由所述光阻圖案進(jìn)行蝕刻。
15、如權(quán)利要求9所述的制造過(guò)程,其中,所述光學(xué)層組成包括SiOx、SixNy、SiC、SiOxNy、ZnSe、TiO2或Ta2O5等材料組成,其中x與y為化學(xué)元素比率。
16、如權(quán)利要求9所述的制造過(guò)程,其中,所述光提取點(diǎn)狀物的陣列包括以并置的六邊形圖案分布所述光提取點(diǎn)狀物。
17、如權(quán)利要求16所述的制造過(guò)程,其中,所述多個(gè)光提取點(diǎn)狀物設(shè)置在每一個(gè)六邊形圖案的角落與中間。
18、如權(quán)利要求9所述的制造過(guò)程,其中,至少一個(gè)光提取點(diǎn)狀物具有六邊形的形狀。
19、如權(quán)利要求9所述的制造過(guò)程,其中,所述發(fā)光二極管的光強(qiáng)度大于約150mcd。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于泰谷光電科技股份有限公司,未經(jīng)泰谷光電科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610165917.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類





