[發(fā)明專利]存儲器的分配方法及其測試方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610164699.0
• 申請日: 2006-12-14
• 公開（公告）號: CN101201793A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 武波;方麗華;陳玄同;劉文涵
• 申請（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號: G06F12/02
• 分類號: G06F12/02;G06F11/22;G06F9/46;G11C29/00
• 代理公司: 隆天國際知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 陳晨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種存儲器測試方法，尤其涉及一種應(yīng)用于窗口(Window)操作系統(tǒng)平臺的存儲器分配及其對應(yīng)的測試方法。

背景技術(shù)

目前，公知技術(shù)的存儲器測試方法如圖1所示，首先在測試存儲器之前，在步驟102，獲得要分配的存儲器大小，然后在步驟104，依照此分配存儲器大小在整個實(shí)體存儲器上進(jìn)行存儲器分配。因此，在步驟106，可執(zhí)行對分配存儲器的測試操作，并在測試結(jié)束后，在步驟108，釋放存儲器。

雖然依照上述方法能夠執(zhí)行存儲器的測試，但是公知方法僅提供了指定要測試存儲器大小的一種模式，而無法針對出錯的存儲器區(qū)塊進(jìn)行直接測試。并且在測試過程中，是由操作系統(tǒng)來決定分配哪一區(qū)塊的實(shí)體存儲器，無法由用戶指定，因而可能出現(xiàn)重復(fù)測試同一區(qū)塊存儲器的情況。例如圖2顯示，當(dāng)根據(jù)公知技術(shù)所有分配均在整個實(shí)體存儲器1上進(jìn)行時，第1次分配的存儲器為存儲器10，第2次分配為存儲器12，但是第1次與第3次分配了同一區(qū)塊的存儲器10。由于上述系統(tǒng)分配存儲器重復(fù)的情況出現(xiàn)機(jī)率很高，因此會很大程度地影響測試的覆蓋率，即所測試的存儲器占據(jù)總存儲器的百分比。

此外，現(xiàn)有的測試軟件不能夠提供存儲器測試覆蓋率數(shù)據(jù)，因此無法得到測試覆蓋率的實(shí)際情況。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述公知技術(shù)中的問題與缺陷，本發(fā)明的目的在于提供一種用于窗口操作系統(tǒng)平臺的存儲器分配及對應(yīng)測試方法，以提高存儲器測試的覆蓋率。

本發(fā)明所提供的測試存儲器的分配方法，包含以下步驟：依照地址邏輯劃分整個實(shí)體存儲器為多個存儲器段；將多個存儲器段按照地址順序進(jìn)行編號；在每次分配測試存儲器時，依照編號順序依次選擇存儲器段，以在選擇的存儲器段上分配該測試存儲器。依照本發(fā)明的測試存儲器分配方法，當(dāng)采用多線程進(jìn)行存儲器測試時，分配測試存儲器的步驟最好是依照多線程的個數(shù)，在同一個選擇的存儲器段上多次連續(xù)分配多個測試存儲器，較佳是連續(xù)分配的次數(shù)等于多線程的個數(shù)。此外，本發(fā)明還提供了一種窗口操作系統(tǒng)平臺的存儲器測試方法，包含以下步驟：獲取要分配的存儲器大小；在系統(tǒng)實(shí)體存儲器劃分的多個存儲器段中選擇一存儲器段；依照分配存儲器大小，在選擇的存儲器段中分配一存儲器；將分配存儲器映射至用戶的線性地址空間；執(zhí)行映射存儲器的測試；以及卸載并釋放映射存儲器。

依照此窗口操作系統(tǒng)平臺的存儲器測試方法，可還包含建立一存儲器位圖的步驟，其中存儲器位圖的每一位對應(yīng)一存儲器分頁，以記錄已測試的存儲器分頁，進(jìn)而計(jì)算存儲器測試的覆蓋率。

依照此存儲器測試方法，其中系統(tǒng)實(shí)體存儲器依照地址邏輯劃分為多個存儲器段。較佳地，多個存儲器段為固定大小。

此外，選擇存儲器段的步驟還包含以下步驟：將多個存儲器段按照地址順序進(jìn)行編號；以及在每次分配存儲器時，依照編號順序依次選擇存儲器段，以在選擇的存儲器段上分配此存儲器。其中當(dāng)采用多線程進(jìn)行存儲器測試時，分配存儲器依照多線程的個數(shù)，在同一個選擇的存儲器段上多次連續(xù)分配多個存儲器，并且最好是連續(xù)分配的次數(shù)等于多線程的個數(shù)。

本發(fā)明通過依照地址對整個實(shí)體存儲器劃分為多個存儲器段，并且每次測試時依次序動態(tài)地選擇存儲器段進(jìn)行存儲器分配，進(jìn)而將測試存儲器分配在不同的地址范圍內(nèi)，使得每次測試的存儲器不同，因此提高了存儲器測試的覆蓋率。

當(dāng)存在多線程之存儲器測試時，在當(dāng)前選擇的存儲器段中依照線程數(shù)量連續(xù)多次分配，即在同一存儲器段中同時分配多個線程，則可有效地提高每個存儲器段的覆蓋率，進(jìn)而提高整個存儲器的測試覆蓋率。

并且，通過建立存儲器位圖及對應(yīng)存儲器頁來記錄測試情況，能夠計(jì)算并提供測試的實(shí)際覆蓋率。

附圖說明

圖1為公知技術(shù)的存儲器測試方法的步驟流程圖；

圖2為公知技術(shù)的存儲器分配的效果圖；

圖3為本發(fā)明的窗口操作系統(tǒng)平臺的存儲器測試方法步驟流程圖；

圖4a與圖4b為本發(fā)明的測試存儲器分配的實(shí)施例效果圖；以及

圖5為本發(fā)明的存儲器位圖的示意圖。

其中，附圖標(biāo)記說明如下：

1?????實(shí)體存儲器

10????分配存儲器

12????分配存儲器

21????存儲器段

22????存儲器段

23????存儲器段

211???分配存儲器

211’?分配存儲器

221???分配存儲器

231???分配存儲器

231’?分配存儲器

31????存儲器段

32????存儲器段