[發明專利]一種移動終端輻射連續騷擾指標測試方法及其系統無效
| 申請號: | 200610162287.3 | 申請日: | 2006-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN101207447A | 公開(公告)日: | 2008-06-25 |
| 發明(設計)人: | 李成恩;李廣峰;李健;秦國強;段亞軍;緱城 | 申請(專利權)人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00;H04Q7/34 |
| 代理公司: | 北京安信方達知識產權代理有限公司 | 代理人: | 許志勇;顏濤 |
| 地址: | 518057廣東省深圳市南山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 移動 終端 輻射 連續 騷擾 指標 測試 方法 及其 系統 | ||
技術領域
本發明涉及移動終端測試技術,具體涉及一種移動終端輻射連續騷擾指標測試方法及其系統。
背景技術
目前,全球數字移動用戶已經達到13億,而且隨著中國3G牌照的發放該數字有望在未來幾年內翻一番。據預測,2008年全球通信業將呈現高達20億移動用戶數的巨大市場。
全球的移動業務和應用正朝著語音、多媒體和企業應用這三個主要方向增長。移動數據業務將在移動市場中擁有越來越大的份額。截至2003年9月,全球移動數據業務用戶達到1億人,占全球12.9億移動用戶的7.7%,與2003年6月份的統計結果相比增長了14%。到2007年,移動數據業務所占比例將從2002年的10%上升至30%,移動服務市場本身將成為6千億歐元的市場。
隨著市場對終端數據業務的需求日益增長。終端的功能越來越多,它本身的EMC,EMI問題也日趨凸現。現在所有的移動終端在進入市場前,要經過各種認證測試,其中有一項就是對產品的輻射連續騷擾有明確的指標限制。而在做輻射連續騷擾測試時這項指標對測試環境的要求很高——必須要到經過認證的微波無反射暗室去做,如圖1所示,微波無反射暗室由屏蔽體11和吸波材料12構成:
在微波無反射暗室中,將被測移動終端14放到轉臺15上之后,關閉微波無反射暗室的門,與外界的環境完全屏蔽隔開,模擬基站——綜合測試儀輸出端口連接到呼叫天線131,由呼叫天線131對被測件發起呼叫,呼叫成功后,輻射連續騷擾接受系統連接到接收天線132,由接收天線1321開始接受被測件14發出的雜散信號,接收天線132可以接收30MHz-1000MHz的所有電磁信號,它將接收到的所有信號傳給輻射連續騷擾接受系統最后端——頻譜分析儀,頻譜分析儀上會峰值保持。當接收天線132開始工作以后,被測件14所在的轉臺15就開始工作,在轉臺15轉動的過程中呼叫天線131不斷地將接收到的數據刷新,并保持峰值。在被測件14旋轉一周后,呼叫天線131要升高1米再測試一遍,因為剛開始時的位置是與轉臺上的被測件14一樣高,即距地面1米,最后將兩次轉動后的總峰值顯示出來,就是被測移動終端14最終的輻射連續騷擾測試結果。
對于大多數的終端設備廠商來說,建一個微波無反射暗室加上測試儀器,其費用相當高昂,達千萬人民幣,不現實。目前廠家采取的方法是:1.到有條件的單位租借他方的暗室和儀表來進行測試。2.到專業的測試機構測試。遇到指標測試不合格需要調試的產品(大多數產品一次通過測試的幾率很小)。廠家的工程師往往要長時間占用暗室一邊調試一邊測試,對廠家而言其過程耗時長,效率低,費用高昂。
發明內容
本發明需要解決的技術問題是提供一種移動終端輻射連續騷擾指標測試方法及其系統,無須傳統的微波無反射暗室及測量設備就可以對移動終端的輻射連續騷擾頻點和電平值做到指標摸底,從而避免在正式的輻射連續騷擾認證測試前廠家頻繁的租借微波無反射暗室和專用儀表去測試、調試移動終端輻射連續騷擾指標。
本發明的上述第一個技術問題這樣解決,提供一種移動終端輻射連續騷擾指標測試方法,使用輻射電磁場近場/遠場轉換關系,包括以下步驟:
1.1)在屏蔽室內進行測試,屏蔽外界干擾;
1.2)建立綜合測試儀與被測移動終端之間的無線通信,利用綜合測試儀指令被測移動終端以最大功率向外發射;
1.3)使用頻譜分析儀及其連接的近場電磁波接收小探頭掃描被測移動終端采集輻射連續騷擾能量電平值;
1.4)計算獲取各騷擾頻點相對于被測移動終端主發射頻點的能量電平差值,并根據指標測試的判定門限,加上近場/遠場轉換導致的容差,最終判斷該頻點輻射連續騷擾是否滿足指標要求。
按照本發明提供的測試方法,所述步驟1.2)中建立包括在綜合測試儀的輸出/入端口用射頻電纜將與被測移動終端工作頻段相一致的螺旋天線連接起來,構成一虛擬基站。
按照本發明提供的測試方法,所述步驟1.2)中建立包括在被測移動終端中插入綜合測試儀專用測試USIM卡,這里也可以是其他可通話的卡:如SIM卡,UIM卡。
按照本發明提供的測試方法,所述綜合測試儀和被測移動終端位置固定,所述綜合測試儀設置與綜合測試儀和被測移動終端位置關系相適應的空間插損值。
按照本發明提供的測試方法,所述步驟1.3)中掃描是緊貼被測移動終端表面進行直至所有區域都掃過一遍,可以是按照被測移動終端外型幾何面的短邊相平行的方向分別逐行掃描。
按照本發明提供的測試方法,所述容差可以是+/-2.5dB。
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