[發(fā)明專利]芯片封裝及芯片封裝方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610160601.4 | 申請日: | 2006-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN101192548A | 公開(公告)日: | 2008-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張嘉帥;莊承龍;吳嘉泯 | 申請(專利權(quán))人: | 印像科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/50 | 分類號: | H01L21/50;H01L25/00;H01L25/16 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 周建秋;王鳳桐 |
| 地址: | 中國臺灣桃園縣*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 封裝 方法 | ||
1.一種用于光學(xué)應(yīng)用的芯片封裝方法,包括下列步驟:
a)提供具有第一表面及第二表面的基板;
b)將多個(gè)第一被動裝置與所述第一表面接合;
c)將第一芯片黏附于所述第一表面;
d)于所述第一表面形成一保護(hù)罩,用以覆蓋所述多個(gè)第一被動裝置和所述第一芯片;
e)將多個(gè)第二被動裝置與所述第二表面接合;
f)將第二芯片黏附于所述第二表面;
g)提供具有框架的蓋座組合,且該框架具有開口窗及多個(gè)與所述第二表面連接的支柱;
h)將所述蓋座組合迭合在所述多個(gè)第二被動裝置及所述第二芯片上,使得所述框架與第二表面邊緣間形成多個(gè)間隙;以及
i)將填料填入所述多個(gè)間隙,以封裝在所述蓋座組合上的所述多個(gè)第二被動裝置及所述第二芯片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述基板包括陶瓷基板與印刷電路板。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述第一芯片與所述第二芯片以打線方式接合于所述基板。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述步驟b)與所述步驟e)以表面貼裝技術(shù)實(shí)施。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述多個(gè)支柱置于所述框架的角落。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述填料是環(huán)氧樹脂。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述蓋座組合進(jìn)一步包括置于上述開口窗的玻璃片。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述第一芯片是數(shù)字信號處理器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述第二芯片是成像芯片。
10.一種用于光學(xué)應(yīng)用的芯片封裝,該芯片封裝包括:
具有第一表面與第二表面的基板;
第一芯片與多個(gè)第一被動裝置,位于所述第一表面;
形成于所述第一表面上方的保護(hù)罩,用于覆蓋所述多個(gè)第一被動裝置與所述第一芯片;
第二芯片與多個(gè)第二被動裝置,位于所述第二表面;
具有框架的蓋座組合,所述框架具有開口窗與多個(gè)支柱,其中所述多個(gè)支柱與所述第二表面邊緣連接,在所述基板邊緣形成多個(gè)間隙;
位于所述開口窗的玻璃片,用于覆蓋所述基板;以及
填入所述基板邊緣的多個(gè)間隙的填料。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片封裝,其特征在于,所述基板包括陶瓷基板與印刷電路板.
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片封裝,其特征在于,所述第一芯片與所述第二芯片以打線方式接合于所述基板。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片封裝,其特征在于,所述多個(gè)第一被動裝置與所述多個(gè)第二被動裝置以表面貼裝技術(shù)置于所述基板。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片封裝,??其特征在于,所述填料是環(huán)氧樹脂。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片封裝,??其特征在于,所述多個(gè)支柱位于所述蓋座組合的角落。
16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片封裝,其特征在于,所述第一芯片是數(shù)字信號處理器。
17.如根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片封裝,其特征在于,所述第二芯片是成像芯片。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





