[發明專利]校正印刷電路板鉆孔位置的檢測裝置及其方法

無效

• 申請號: 200610152972.8
• 申請日: 2006-09-22
• 公開（公告）號: CN101149250A
• 公開（公告）日: 2008-03-26
• 發明（設計）人: 鄭頂山
• 申請（專利權）人: 亞亞科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/03
• 代理公司: 天津三元專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 胡婉明

1.一種校正印刷電路板鉆孔位置的檢測裝置，其特征在于，包括：一機臺，該機臺上設有一框體及一可前后滑移的置板平臺，該框體上設有一光學尺；一光學檢測單元，其是可在框體上左右滑移，具有上下對焦功效的光學檢測單元；一平臺定位單元，該平臺定位單元設在置板平臺端緣，其設有數個背板，背板呈間隔設置，相鄰背板間的寬度小于光學檢測單元每一掃描區間的寬度，且背板上形成有數個等距對位孔。

2.根據權利要求1所述的校正印刷電路板鉆孔位置的檢測裝置，其特征在于，所述光學檢測單元具有一光源接收器，光源接收器下方設有一倍率鏡頭，倍率鏡頭上套設有一聚焦框架，聚焦框架上位于倍率鏡頭兩側分別設有一光源發射器，兩光源發射器的光源聚焦在置板平臺上的印刷電路板面，并反射經倍率鏡頭后由光源接收器接收。

3.一種校正印刷電路板鉆孔位置的檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：a、設定光學檢測單元每一掃描區間寬度為W；b、設定相鄰掃描區間的重疊區域，下一掃描區間的掃描起始點為上一掃描區間寬度減去該重疊區域，以避免鉆孔的偵測遺漏；c、取得光學尺測量光學檢測單元各掃描區間的掃描起始點的移動距離為K₁，依比類推測量第n掃描區間的掃描起始點的移動距離為K_n-1；d、取得光學檢測單元偵測的第一、第二掃描區間的重疊區域的對位孔至對應第一掃描區間掃描起始點的影像距離為N₁，依此類推偵測第n-1、n掃描區間的重疊區域的對位孔至對應第n-1掃描區間掃描起始點為經校正后的影像距離為N_n-1；e、取得光學檢測單元偵測的第一、第二掃描區間的重疊區域的對位孔至對應第二掃描區間掃描起始點的影像距離為M₁，依此類推偵測的第n-1、n掃描區間的重疊區域的對位孔至對應第n掃描區間掃描起始點的影像距離為M_n-1；f、計算第n次掃描區間內所有鉆孔的孔位距離X_n的校正孔位距離X_ns＝X_n+(N_n-1-K_n-1-M_n-1)。

4.根據權利要求3所述的校正印刷電路板鉆孔位置的檢測檢測方法，其特征在于，相鄰掃描區間的重疊區域等于印刷電路板中巳知最大的鉆孔直徑。