[發(fā)明專利]一種可靠預(yù)測(cè)碲鎘汞光電響應(yīng)截止波長(zhǎng)的非接觸實(shí)驗(yàn)方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610148066.0 | 申請(qǐng)日: | 2006-12-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1995974A | 公開(公告)日: | 2007-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邵軍;呂翔;陸衛(wèi);吳俊;越方禹;黃煒;李寧;何力;褚君浩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/25 | 分類號(hào): | G01N21/25;G01J3/00 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人: | 田申榮 |
| 地址: | 200083*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 可靠 預(yù)測(cè) 碲鎘汞 光電 響應(yīng) 截止 波長(zhǎng) 接觸 實(shí)驗(yàn) 方法 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610148066.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:高分散性高粘度改性瀝青
- 下一篇:一種砼填充用空腔模殼構(gòu)件
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法、程序以及記錄介質(zhì)
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法
- 基于時(shí)間序列預(yù)測(cè)模型適用性量化的預(yù)測(cè)模型選擇方法
- 圖像編碼裝置、圖像編碼方法、圖像譯碼裝置、圖像譯碼方法
- 分類預(yù)測(cè)方法及裝置、預(yù)測(cè)模型訓(xùn)練方法及裝置
- 幀內(nèi)預(yù)測(cè)的方法及裝置
- 圖像預(yù)測(cè)方法及裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 文本預(yù)測(cè)方法、裝置以及電子設(shè)備
- 模型融合方法、預(yù)測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





