[發明專利]用于曲面測量的裝置

無效

• 申請號: 200610147315.4
• 申請日: 2006-12-15
• 公開（公告）號: CN101201236A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: 黃賢
• 申請（專利權）人: 上海永新彩色顯像管股份有限公司
• 主分類號: G01B3/00
• 分類號: G01B3/00;G01B5/00;G01B5/004;G01B5/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 陳亮

技術領域

本發明涉及一種用于曲面測量的裝置，尤其涉及一種用于成形蔭罩的曲面測量的裝置。

背景技術

圖1示出了是一種用多孔網狀薄板(厚度約0.20～0.30mm)拉伸而成的成形蔭罩。該蔭罩按照要求通常具有多項式曲面(二元4～6次項公式)的以軸對稱方式分布的形狀。該蔭罩的剛度和強度較差，在受到較大外力時會造成嚴重的變形。同時，該蔭罩的外形并非直線形，因而使得對蔭罩進行固定以及用三坐標測量儀尋找其中心都很困難。此外，考慮到蔭罩的剛度和強度較差，容易因自重而發生扭曲形變，因此存在解決在測量時保持曲面不扭曲的技術問題。

發明內容

本發明提供了一種用于曲面測量的裝置，它包括底板、導軌式升降組件和頂桿，其中底板中心設有一基準孔且底板上還設有對稱分布的定位孔，導軌式升降組件固定于相應的定位孔中，頂桿裝在導軌式升降組件上。

此外，導軌式升降組件根據要被測量的曲面器件的尺寸和大小來選擇定位孔，以便固定于這些相應的定位孔中。

此外，導軌式升降組件還具有一個帶定位銷的固定座。

此外，頂桿的頭部為圓盤形。

此外，圓盤形的頭部根據被測的曲面器件的角部圓角進行匹配設計。

本發明的曲面測量裝置能在對待測工件進行固定的同時使被測工件的形變最小，并能提供測量用的坐標系。

應當理解，本發明以上的一般性描述和以下的詳細描述都是示例性和說明性的，并且旨在為如權利要求所述的本發明提供進一步的解釋。

附圖說明

包括附圖是為提供對本發明進一步的理解，它們被收錄并構成本申請的一部分，附圖示出了本發明的實施例，并與本說明書一起起到解釋本發明原理的作用。附圖中：

圖1示出了一種用多孔網狀薄板拉伸而成的成形蔭罩。

圖2是根據本發明的用于曲面測量的裝置的示圖。

圖3是根據本發明的用于曲面測量的裝置中的底板的示圖。

圖4是根據本發明的用于曲面測量的裝置中的升降組件的示圖。

圖5是根據本發明的升降組件的分解示圖。

圖6是根據本發明的用于曲面測量的裝置中的頂桿的示圖。

具體實施方式

現在將詳細參考附圖描述本發明的實施例。現在將詳細參考本發明的優選實施例，其示例在附圖中示出。在任何可能的情況下，在所有附圖中將使用相同的標記來表示相同或相似的部分。此外，盡管本發明中所使用的術語是從公知公用的術語中選擇的，但是本發明說明書中所提及的一些術語可能是申請人按他或她的判斷來選擇的，其詳細含義在本文的描述的相關部分中說明。此外，要求不僅僅通過所使用的實際術語，而是還要通過每個術語所蘊含的意義來理解本發明。

圖2是根據本發明的用于曲面測量的裝置的示圖。如圖2所示，本發明的曲面測量裝置包括底板201、頂桿202和導軌式升降組件203。

圖3單獨示出了圖2所示的底板201。如圖所示，該底板是四方的，底板中心處有一個加工精度很高的基準圓孔301以及其中一條側面為加工精度很高的基準面303。根據這兩個基準(基準圓孔301和基準面303)，在該底板上加工四個定位孔302(針對于一個型號或品種的被測器件)，其中這些定位是呈中心軸對稱分布的。使用時，將導軌式升降組件203的定位銷插入這些定位孔302，以起到精確定位的作用。此外，如圖所示，每個定位孔的兩邊都增設兩個螺紋孔，用于固定螺栓以進一步固定被插入的導軌式升降組件203。

測量時，以中心基準孔的圓形作為X、Y軸的原點，將基準面作為X軸矢量方向或Y軸矢量方向，坐標原點即成形蔭罩的中心點(圖1中的坐標系位置處)，同時X軸和Y軸與成形蔭罩的對稱軸重合。按照這種方式，即可實現在測量過程中對成形蔭罩的尺寸定位。此外，底板上各定位孔302的設置取決于被測的器件。例如，按照被測器件的要求，各定位孔之間的相互距離可以改變；在某些情況下，各定位孔可以其它的對稱方式(甚至非對稱地)設置。當然，在任何情況下，上述建立坐標系的原理是基本相同的。