[發明專利]一種發光二極管的電性參數測試電路

無效

• 申請號: 200610147111.0
• 申請日: 2006-11-08
• 公開（公告）號: CN101109783A
• 公開（公告）日: 2008-01-23
• 發明（設計）人: 楊少辰;韓金龍;羅會才;潘登
• 申請（專利權）人: 楊少辰;韓金龍;羅會才
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/00;H01L21/66
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種發光二極管的電性參數測試電路，其特征在于，電阻R1、R2與R3串聯，連接在地線與恒壓源/恒流源之間，由計算機上層控制軟件控制恒壓源/恒流源的輸出，標準電壓源接入電路，構成本電路的校準回路，通過電阻R2兩端的取樣電路獲取該回路中的電流大小，并將獲取的電流值與指定的標準電壓源均通過切換電路輸入至計算機上層控制軟件；計算機上層控制軟件分別與D/A恒壓源基準和D/A恒流源基準相接，所述D/A恒壓源基準通過與其對應的比較器的一個輸入端與恒壓源相連，電阻R2和R3之間的節點電位與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒壓源相關的反饋電路，該比較器的輸出端與恒壓源連接，恒壓源與其反饋電路構成本電路的恒壓控制回路；所述D/A恒流源基準通過與其對應的比較器的一個輸入端與恒流源相連，電阻R1兩端的取樣電壓與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒流源相關的反饋電路，該比較器的輸出端分別與恒流源連接，恒流源與其反饋電路路構成本電路的恒流控制回路；測試發光二極管時，電阻R3與電阻R1、R2斷開，待測發光二極管與電阻R1、R2串聯。