[發明專利]芯片測試裝置與系統

有效

• 申請號: 200610145925.0
• 申請日: 2006-11-23
• 公開（公告）號: CN101191816A
• 公開（公告）日: 2008-06-04
• 發明（設計）人: 陳彥文;周彥云
• 申請（專利權）人: 普誠科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3177;H01L21/66
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所
• 代理人: 劉新宇

1.一種芯片測試裝置，其特征在于，具有多個測試單元，所述芯片測試裝置包括：

一選擇器，受控于一控制信號，具有一第一輸入端、一反饋輸入端以及一第一輸出端；

一觸發器，耦接于該選擇器，具有一第二輸入端，一時脈輸入端以及一第二輸出端，其中該第二輸入端耦接該第一輸出端，該時脈輸入端接收一時脈信號，該觸發器是用以于該第二輸出端輸出一輸出數據；

一第一緩沖器，耦接于該觸發器，用以將該輸出數據轉換為一高電壓數據并加以輸出；以及

一第二緩沖器，耦接該第一緩沖器，用以將該高電壓數據轉換為一低電壓數據，并傳送至該反饋輸入端。

2.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，更包括一閂鎖器，耦接于該觸發器及該第一緩沖器，用以暫存該輸出數據。

3.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，該控制信號用以控制該第一輸出端輸出該第一輸入端的信號或該反饋輸入端的信號。

4.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，該第一緩沖器與該第二緩沖器由兩個反相器組成。

5.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，該觸發器為D型觸發器，RS型觸發器，或JK型觸發器。

6.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，另包含一顯示裝置，耦接該第一緩沖器，用以顯示該高電壓數據。

7.根據權利要求6所述的芯片測試裝置，其特征在于，當該高電壓數據為邏輯高電平時，該顯示裝置導通，當該高電壓數據為邏輯低電平時，該顯示裝置不導通。

8.一種芯片測試系統，其特征在于，所述芯片測試系統包括：

一測試裝置，具有多個測試單元，所述測試單元包括：

一選擇器，受控于一控制信號，具有一第一輸入端、一反饋輸入端以及一第一輸出端；

一觸發器，耦接于該選擇器，具有一第二輸入端，一時脈輸入端以及一第二輸出端，其中該第二輸入端耦接該第一輸出端，該時脈輸入端接收一時脈信號，該觸發器是用以于該第二輸出端輸出一輸出數據；

一第一緩沖器，耦接于該觸發器，用以將該輸出數據轉換為一高電壓數據，并加以輸出；以及

一第二緩沖器，耦接該第一緩沖器，用以將該高電壓數據轉換為一低電壓數據，并傳送至該反饋輸入端；

一芯片，具有多個腳位，其中一該腳位耦接于一該測試單元的該第一輸入端；以及

一控制單元，耦接于該芯片，用以控制該芯片自該腳位輸出一測試信號，并比較該測試信號與該低電壓數據是否相同。

9.根據權利要求8所述的芯片測試系統，其特征在于，該測試裝置更包括一閂鎖器，耦接于該觸發器及該第一緩沖器，用以暫存該輸出數據。

10.根據權利要求8所述的芯片測試系統，其特征在于，該控制信號用以控制該第一輸出端輸出該第一輸入端的信號或該反饋輸入端的信號。

11.根據權利要求8所述的芯片測試系統，其特征在于，當該第一輸出端輸出該反饋輸入端的信號時，該控制單元自該觸發器讀取并比較該測試信號與該低電壓數據。

12.根據權利要求8所述的芯片測試系統，其特征在于，該第一緩沖器與該第二緩沖器由兩個反相器組成。

13.根據權利要求8所述的芯片測試系統，其特征在于，另包含一顯示裝置，耦接該第一緩沖器，用以顯示該高電壓數據。

14.根據權利要求13所述的芯片測試系統，其特征在于，當該高電壓數據為邏輯高電平時，該顯示裝置導通，當該高電壓數據為邏輯低電平時，該顯示裝置不導通。

15.根據權利要求8所述的芯片測試系統，其特征在于，該觸發器為D型觸發器、JK型觸發器或RS型觸發器。