[發(fā)明專利]占空比檢測(cè)電路、具備其的DLL電路和半導(dǎo)體裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610143203.1 | 申請(qǐng)日： | 2006-10-30 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN1955746A | 公開（公告）日： | 2007-05-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 藤澤宏樹;瀧下隆治 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 爾必達(dá)存儲(chǔ)器株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G01R29/00 | 分類號(hào)： | G01R29/00;G01R29/02;H03K5/156;H03L7/00;H03L7/08;G11C7/10;G11C7/22 |
| 代理公司： | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 陸錦華;李亞 |
| 地址： | 日本*** | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測(cè) 電路 具備 dll 半導(dǎo)體 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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G01 測(cè)量；測(cè)試
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量，如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量，即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商；峰值因數(shù)的測(cè)量，即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量，如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量，即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商；峰值因數(shù)的測(cè)量，即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 對(duì)調(diào)用DLL導(dǎo)出函數(shù)進(jìn)行攔截跟蹤的方法
- 一種高速延遲鎖相環(huán)
- 延遲鎖相環(huán)電路設(shè)備及延遲鎖相環(huán)鎖定方法
- 一種DRAM時(shí)鐘同步系統(tǒng)
- 一種加固安裝包的動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)DLL文件的方法和裝置
- 一種DRAM時(shí)鐘同步系統(tǒng)
- 檢測(cè)與攔截Mimikatz的方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 防止不良DLL注入的方法、存儲(chǔ)介質(zhì)、電子設(shè)備及系統(tǒng)
- 一種DLL文件的處理方法及相關(guān)裝置
- 動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)文件劫持檢測(cè)方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
