[發明專利]測試電路及其測試方法有效
| 申請號: | 200610142334.8 | 申請日: | 2006-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN1928578A | 公開(公告)日: | 2007-03-14 |
| 發明(設計)人: | 吳政原;張建誠 | 申請(專利權)人: | 威盛電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/317 | 分類號: | G01R31/317;G01R31/3185 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 蒲邁文;黃小臨 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 電路 及其 方法 | ||
【權利要求書】:
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于威盛電子股份有限公司,未經威盛電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610142334.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種接入終端與運營商綁定的方法
- 下一篇:跨乘式車輛及其動力單元





