[發(fā)明專利]最佳化參數(shù)調(diào)整方法和系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610140140.4
• 申請日: 2006-09-30
• 公開（公告）號: CN101154243A
• 公開（公告）日: 2008-04-02
• 發(fā)明（設計）人: 簡弘倫;高得
• 申請（專利權）人: 普誠科技股份有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京林達劉知識產(chǎn)權代理事務所
• 代理人: 劉新宇

技術領域

本發(fā)明是有關于一種最佳化參數(shù)調(diào)整方法，特別是有關于一種適用于非線性裝置的最佳化參數(shù)調(diào)整方法。

背景技術

傳統(tǒng)對于一電路分析可通過求得電路的變換函數(shù)(TransferFunction)來達到目的，因為在拉氏變換域或z變換域，一輸出信號等于輸入信號和變換函數(shù)的乘積，假設輸入信號是已知信號，并且一電路的變換函數(shù)是已知，此電路的輸出信號即可被推得。除此之外，電路設計者也可通過調(diào)整變換函數(shù)的各參數(shù)以設計符合特定規(guī)格的電路。

電路可以分成線性電路和非線性電路，當電路為一線性電路時，電路設計者可通過線性系統(tǒng)作分析來求得此線性電路的變換函數(shù)以調(diào)整非線性電路的參數(shù)，然而，當電路為一非線性電路時，電路設計者則無法以單一變換函數(shù)來表示也無法以線性系統(tǒng)的方式分析以調(diào)整非線性電路的參數(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種最佳化參數(shù)調(diào)整方法，最佳化參數(shù)調(diào)整方法包括步驟一：隨機產(chǎn)生具有多個參數(shù)的第一群參數(shù)，步驟二：將各參數(shù)設定于一裝置以偵測對應各參數(shù)的適應函數(shù)值，步驟三：根據(jù)適應函數(shù)值以決定各參數(shù)是否被復制以產(chǎn)生第二群參數(shù)，步驟四：從第二群參數(shù)隨機選取多個參數(shù)組以執(zhí)行一交配法，而產(chǎn)生取代參數(shù)組的多個新參數(shù)組以產(chǎn)生第三群參數(shù)以及步驟五：將第三群參數(shù)設定于裝置以偵測對應各參數(shù)的適應函數(shù)值，并根據(jù)適應函數(shù)值決定一最佳化參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，步驟一更包括預先設定多個參數(shù)初值，在上述參數(shù)初值附近隨機產(chǎn)生上述第一群參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，步驟三更包括上述適應函數(shù)值超過一臨界值時，復制對應上述適應函數(shù)值的上述參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，步驟五更包括挑出超過一預定值的上述適應函數(shù)值的上述最佳化參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，更包括重復步驟二至步驟五一預定次數(shù)以挑出超過一預定值的上述適應函數(shù)值的上述最佳化參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，更包括根據(jù)一預定突變機率，隨機突變部分上述第一群參數(shù)、上述第二群參數(shù)和上述第三群參數(shù)的上述參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述裝置為一現(xiàn)場可編程門陣列(Field?Programmable?Gate?Array，F(xiàn)PGA)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述裝置為一∑-Δ(Sigma-delta)的非線性裝置。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述適應函數(shù)值為一信號噪聲比值(signal?to?noise?ratio，SNR)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述交配法為一點交配法或一兩點交配法。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，更包括將多個預先設定參數(shù)取代部分上述第一群參數(shù)、上述第二群參數(shù)和上述第三群參數(shù)的上述參數(shù)。

本發(fā)明更提供一種最佳化參數(shù)調(diào)整方法，最佳化參數(shù)調(diào)整方法包括隨機產(chǎn)生具有多個參數(shù)的第一群參數(shù)，將各參數(shù)設定于一裝置以偵測該裝置的適應函數(shù)值，當適應函數(shù)值超過一臨界值時，復制對應適應函數(shù)值的參數(shù)以產(chǎn)生第二群參數(shù)，從第二群參數(shù)隨機選取多個參數(shù)組以執(zhí)行一交配法，而產(chǎn)生取代參數(shù)組的多個新參數(shù)組以產(chǎn)生第三群參數(shù)以及將第三群參數(shù)設定于裝置以偵測對應各參數(shù)的適應函數(shù)值，并重復上述步驟一預定次數(shù)以挑出超過一預定值的適應函數(shù)值的一最佳化參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，更包括根據(jù)一預定突變機率，隨機突變部分上述第一群參數(shù)、上述第二群參數(shù)和上述第三群參數(shù)的上述參數(shù)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述裝置為一現(xiàn)場可編程門陣列(Field?Programmable?Gate?Array，F(xiàn)PGA)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述裝置為一∑-Δ(Sigma-delta)的非線性裝置。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述適應函數(shù)值為一信號噪聲比值(signal?to?noise?ratio，SNR)。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，上述交配法為一點交配法和兩點交配法之一。

本發(fā)明所述的最佳化參數(shù)調(diào)整方法，更包括將多個預先設定參數(shù)取代部分上述第一群參數(shù)、上述第二群參數(shù)和上述第三群參數(shù)的上述參數(shù)。