[發明專利]信息記錄/再現設備和檢測磁頭與記錄介質之間間隙的方法

無效

• 申請號: 200610139767.8
• 申請日: 2006-09-25
• 公開（公告）號: CN101064170A
• 公開（公告）日: 2007-10-31
• 發明（設計）人: 伊海佳昭;飯田安津夫;今村孝浩;藤卷徹;橫畑徹
• 申請（專利權）人: 富士通株式會社
• 主分類號: G11B21/21
• 分類號: G11B21/21;G11B5/60
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 趙淑萍

技術領域

本發明涉及具有用于向記錄介質記錄信息和從記錄介質再現信息的磁頭(head)的信息記錄/再現設備，以及對磁頭相對于記錄介質在高度方向上所處的位置進行檢測的方法。

背景技術

在諸如磁盤驅動器這樣的信息記錄/再現設備中，磁頭與記錄介質之間的間隙(gap)應該盡可能地小，以滿足對信息的高密度記錄的需要。然而如果間隙過小，磁頭就可能接觸記錄介質并在介質上滑行。如果這種情況發生，那么將發生不利的事件，例如由磁頭和/或介質的損壞而引起的記錄和/或再現信息的錯誤，由磁頭和/或介質的磨損而引起的灰塵產生，以及由這樣產生的灰塵而引起的所謂磁頭碰撞(head?crash)。因此，必須減小磁頭與介質之間的間隙，但是不能減小太多以致磁頭接觸記錄介質。

通過一個滑塊(slider)來保持磁頭與記錄介質隔開，該滑塊由于氣壓而浮動離開記錄介質。滑塊浮動離開介質的距離根據滑塊的加工誤差、環境溫度的變化和設備中氣壓的變化而波動。為了減小波動從而將磁頭與介質之間的間隙減到最小且不導致磁頭接觸介質，提供了在滑塊上安裝利用熱膨脹或壓電效應的小致動器(actuator)，以達到對磁頭與介質之間距離的動態控制。

為了驅動致動器從而將磁頭移動到最佳位置，必須執行所謂的零點檢測(zero-point?detection)(即檢測磁頭與介質之間間隙)。該檢測是通過使磁頭接觸介質一次從而確定磁頭當前所處位置來完成的。就是說，確定在磁頭接觸介質之前致動器被移動的距離，從而將磁頭與介質之間的距離減小到零。利用磁頭接觸介質時所在的點作為參考位置，然后將磁頭從介質移開一段預定距離。磁頭因此可以被保持在距介質適當的距離，而不需要關于環境溫度，氣壓或滑塊的浮動距離的波動的信息。這就產生一個有關利用零點檢測的問題。每當執行零點檢測，磁頭就接觸介質。結果，在某些情況下就可能發生諸如上述的不利事件。

要在零點檢測期間防止磁頭接觸介質，小AC振動(vibration)在零點檢測期間被施加到致動器，從而縮短了磁頭接觸介質的時間。這種方法緩和了由磁頭-介質接觸產生的不利事件。(例如見專利文獻1：日本專利申請早期公開公布No.2003-308670。)

然而在專利文獻1所公開的方法中，磁頭連續地接觸介質許多次，而不只是一次。這種重復的磁頭-介質接觸仍可能導致諸如上述的不利事件。

致動器可利用由加熱器引起的熱膨脹。在這種情況下，由于加熱器周圍的組件的材料的熱容量，在向加熱器供電和磁頭開始移動之間的時段期間形成了時滯。不可避免的，不能如專利文獻1中所述那樣快地移動磁頭。上面所指出的問題不能被解決。

正如眾所周知，圖13所示這種滯后(hysteresis)是作為磁頭接觸記錄介質時觀察到的行為而存在的。就是說，一旦磁頭隨著致動器的操作而接觸了介質，磁頭就不能與介質脫離接觸，即使試圖將磁頭后退到就在其接觸介質之前時所處的位置也是如此。因此，滑塊將不會再次浮動，除非磁頭被向后移動了特定距離。

較之滑塊浮動的距離，這種滯后一般大到不能忽略。如果在檢測到磁頭-介質接觸之后操作致動器以使之后退，就像通常為使磁頭遠離介質移動所做的那樣，磁頭將保持與介質接觸直到滯后不再存在為止，如圖13所說明。不可避免的，諸如上述的不利事件可能發生。

在檢測磁頭-介質接觸的一些方法中，必須處理大量數據以確定磁頭是否已接觸介質。在一些情況下可能要用較長時間來確定磁頭-介質接觸。于是，磁頭保持與介質接觸直到確定磁頭的確接觸了介質為止。在這種情況下，諸如上述的不利事件也可能發生。

發明內容

作出本發明是為了解決上述問題。本發明的一個目的是提供信息記錄/再現設備和零點檢測方法，其中磁頭接觸介質的次數和時間可以被盡可能地減小。

根據本發明，提供了利用磁頭向記錄介質記錄信息和從記錄介質再現信息的信息記錄/再現設備。該設備包括：驅動單元，其交替地增大和減小磁頭與記錄介質之間的間隙，從而逐漸地減小磁頭與記錄介質之間的間隙；信號檢測單元，其檢測用來確定磁頭或支撐磁頭的滑塊與記錄介質之間的接觸的檢測信號；以及控制單元，當從由信號檢測單元檢測到的信號確定磁頭或滑塊已經接觸記錄介質時，控制單元將磁頭移動到遠離記錄介質的指定位置并且獲取表示為接觸記錄介質磁頭已經移動的距離的數據。