[發(fā)明專利]半導(dǎo)體芯片及其封裝結(jié)構(gòu)與制法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610139287.1 | 申請日: | 2006-09-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101150143A | 公開(公告)日: | 2008-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃文宏;曾文聰;林長甫;蔡和易;蕭承旭 | 申請(專利權(quán))人: | 矽品精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/30;H01L23/00;H01L21/50 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 程偉 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 芯片 及其 封裝 結(jié)構(gòu) 制法 | ||
1.一種半導(dǎo)體芯片,包括:
芯片本體,該芯片本體具有一主動(dòng)面及一相對的非主動(dòng)面;以及
粗糙化結(jié)構(gòu),形成于該非主動(dòng)面的外圍,從而將該非主動(dòng)面劃分為未予粗糙化的中央部分,以及形成有粗糙化結(jié)構(gòu)的外圍部分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)主要是設(shè)于該半導(dǎo)體芯片的非作用表面角端處。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)的范圍是至少為三分之一的半導(dǎo)體芯片角端至半導(dǎo)體芯片中心距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)是利用波長小于0.5微米的雷射、電漿及化學(xué)蝕刻的其中一方式形成,且該粗糙化結(jié)構(gòu)的深度以0.5至5微米為宜,其中又以2微米為佳。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)是形成于該非主動(dòng)面的四角端且未相互連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)是形成于該非主動(dòng)面的四角端且相互連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該半導(dǎo)體芯片是先經(jīng)拋光處理以強(qiáng)化表面強(qiáng)度,再于該非主動(dòng)面的角端進(jìn)行粗糙化處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該非主動(dòng)面上未形成有粗糙化結(jié)構(gòu)之中央部分形狀是可為圓形、矩形及多邊形的其中之一。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體芯片,其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)的范圍至少為自半導(dǎo)體芯片角端到半導(dǎo)體芯片中心距離的三分之一,且可環(huán)繞該半導(dǎo)體芯片非主動(dòng)面邊緣。
10.一種半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),包括:
芯片承載件;
半導(dǎo)體芯片,具有一主動(dòng)面及相對的非主動(dòng)面,該半導(dǎo)體芯片是以其主動(dòng)面通過多導(dǎo)電凸塊而接置于該芯片承載件上,且該非主動(dòng)面的外圍形成有粗糙化結(jié)構(gòu),從而將該非主動(dòng)面劃分為未予粗糙化的中央部分,以及形成有粗糙化結(jié)構(gòu)的外圍部分;以及
封裝膠體,形成于該芯片承載件上用以包覆該半導(dǎo)體芯片。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)主要是設(shè)于該半導(dǎo)體芯片的角端處。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)的范圍是至少為三分之一的半導(dǎo)體芯片角端至半導(dǎo)體芯片中心距離。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)是利用波長小于0.5微米的雷射、電漿及化學(xué)蝕刻的其中一方式形成,且該粗糙化結(jié)構(gòu)的深度以0.5至5微米為宜,其中又以2微米為佳。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)是形成于該非主動(dòng)面的四角端且未相互連接。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)是形成于該非主動(dòng)面的四角端且相互連接。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該半導(dǎo)體芯片是先經(jīng)拋光處理以強(qiáng)化表面強(qiáng)度,再于該非主動(dòng)面的角端進(jìn)行粗糙化處理。
17.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該芯片承載件為球柵陣列式基底及導(dǎo)線架的其中之一。
18.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該半導(dǎo)體芯片非主動(dòng)面上未形成有粗糙化結(jié)構(gòu)的中央部分形狀是可為圓形、矩形及多邊形的其中之一。
19.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)的范圍至少為自半導(dǎo)體芯片角端到半導(dǎo)體芯片中心距離的三分之一,且可環(huán)繞該半導(dǎo)體芯片非主動(dòng)面邊緣。
20.一種半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)的制法,包括:
提供一半導(dǎo)體芯片,該半導(dǎo)體芯片具有一主動(dòng)面及相對的非主動(dòng)面,以于該非主動(dòng)面的外圍進(jìn)行粗糙化,從而將該非主動(dòng)面劃分為未予粗糙化的中央部分及形成有粗糙化結(jié)構(gòu)的外圍部分;
將該半導(dǎo)體芯片主動(dòng)面通過多導(dǎo)電凸塊接置于一芯片承載件上;以及
于該芯片承載件上形成一包覆該半導(dǎo)體芯片的封裝膠體。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)的制法,其中,該粗糙化結(jié)構(gòu)主要是設(shè)于該半導(dǎo)體芯片的角端處。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





