[發明專利]芯片測試機制與相關方法有效
| 申請號： | 200610136102.1 | 申請日： | 2006-10-11 |
| 公開（公告）號： | CN1928575A | 公開（公告）日： | 2007-03-14 |
| 發明（設計）人： | 蘇俊源 | 申請（專利權）人： | 威盛電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G06F11/267 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人： | 邸萬奎;黃小臨 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 測試 機制 相關 方法 | ||
【權利要求書】：
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